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| 全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术 | |
| 引用本文： | 田宇宏.全反射X荧光分析技术(TRXF)——一种新的高灵敏度元素分析技术[J].原子核物理评论,1991,8(2):41-44. |
| 作者姓名： | 田宇宏 |
| 作者单位： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 摘 要： | 全反射X荧光分析技术,是一种在X 荧光分析技术基础上发展起来的全新的分析技术,其主要特征是通过反射技术去掉在通常X 荧光分析中高能散射本底的影响,提高了分析灵敏度,分析刻度简单,分析样品量少(微克量级),设备简单。于八十年代中期开始出现商品。 |
| 收稿时间： | 1900-01-01 |
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