| 针对RSA-CRT数字签名的光故障攻击研究 |
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| 引用本文： | 王红胜,纪道刚,张阳,陈开颜.针对RSA-CRT数字签名的光故障攻击研究[J].电子设计工程,2015(6). |
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| 作者姓名： | 王红胜 纪道刚 张阳 陈开颜 |
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| 作者单位： | 军械工程学院 信息工程系,河北 石家庄,050003 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(61271152)；国家自然科学基金资助项目(51377170)；河北省自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 通过研究密码芯片SRAM存储单元构造，利用激光改变进行运算的SRAM存储单元的逻辑状态，分析光注入对SRAM存储单元的影响。以Montgomery乘的 RSA－CRT数字签名算法为攻击对象，分析其算法的实现过程和故障注入机理。针对密码芯片实现的8位RSA－CRT签名算法，使用半导体激光作为注入光源，搭建光注入实验平台，在计算Sq时刻进行故障注入，从而得到故障签名，通过分析故障签名与N的关系，成功的获得了大素数q，验证了光故障攻击的有效性。
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| 关 键 词： | 密码芯片 数字签名 RSA-CRT 光故障攻击 Montgomery乘 |
Optical fault attack on RSA-CRT signatures |
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| WANG Hong-sheng,JI Dao-gang,ZHANG Yang,CHEN Kai-yan.Optical fault attack on RSA-CRT signatures[J].Electronic Design Engineering,2015(6). |
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| Authors: | WANG Hong-sheng JI Dao-gang ZHANG Yang CHEN Kai-yan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | cryptographic chip signatures RSA-CRT optical fault attack montgomery multiplication |
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