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| X射线形貌技术在铁磁、铁电畴研究中的应用 | |
| 引用本文： | 周衡南,蒋树声.X射线形貌技术在铁磁、铁电畴研究中的应用[J].物理,1980(5). |
| 作者姓名： | 周衡南 蒋树声 |
| 作者单位： | 南京大学物理系 (周衡南)，南京大学物理系(蒋树声) |
| 摘 要： | 一、引 言 大量事实表明,X射线形貌技术对大块近完整晶体内各种类型缺陷的观察是一种很好的方法1].铁磁、铁电畴和畴壁作为一种形式的面缺陷,其形貌观察的结果同样显示了该方法有着许多独特的优点.早在1960年K.Mexz用X射线反射形貌方法首次成功地显示了铁磁体内畴的一些组态.后来人们又在许多铁磁材料中作过畴的X射线形貌观察,特别是对Fe,Fe-Si中畴的观察结果大大丰富了有关磁畴及畴壁结构和它们在形貌衬度理论方面的研究2,3].许多反铁磁材料(如 NiO,Cr等)的X射线形貌研究工作也是令人鼓舞的.作为形貌技术对磁畴研究的某些进展似乎表… |
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