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Verteilung von Wismut-Spuren im Korngrenzenbereich von technischem Kupfer
Authors:J. Grošel  M. Radwan
Abstract:Kupferproben mit Gehalten von 40 bis 100 ppm Wismut, die bei 580 °C eine halbe Stunde geglüht wurden, zeigen eine groβe Anreicherung dieses Elements im Bereich der Korngrenzen. Die Abnahme des Anreicherungsgrades mit fallender Bi-Ge-halten verläuft nicht proportional. Eine Glühung bei 750 °C führt zu einer besseren Verteilung bzw. geringeren Bi-Anreicherung in diesem Bereich.
Keywords:analysis  bismuth  bismuth isotopes 210Bi  copper  copper isotopes 64Cu
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