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低起始温度的线性升温热处理对直拉硅中氧沉淀的影响
引用本文:崔 灿,马向阳,杨德仁. 低起始温度的线性升温热处理对直拉硅中氧沉淀的影响[J]. 中国物理 B, 2008, 17(2): 1037-1042
作者姓名:崔 灿  马向阳  杨德仁
作者单位:浙江理工大学物理系,杭州 310018;浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州 310027;浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州 310027;浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州 310027
基金项目:教育部创新团队和新世纪优秀人才支持计划、国家重点基础研究发展计划(973)项目(批准号:2007CB6130403)和浙江理工大学科研启动基金(批准号:0613265-Y)资助的课题.
摘    要:研究了直拉硅片从不同的温度线性升温(Ramping)到750℃,然后在750℃退火64 h过程中的氧沉淀行为. 结果表明,Ramping对硅片中氧沉淀的形成有明显的促进作用,且起始温度越低促进作用越强. 这是因为在Ramping处理中,低温(450—650℃)热处理阶段氧的扩散速率显著增强,促进了氧沉淀核心的形成,且较低的Ramping升温速率有利于氧沉淀核心的稳定和继续长大. 进一步的实验结果还表明,低起始温度的Ramping处理可应用于硅片的内吸杂工艺,能促进氧沉淀的生成提高硅片的内吸杂能力,减少热预

关 键 词:直拉硅, 氧沉淀, 退火

Effect of ramping from low temperatures on oxygen precipitation in Czochralski silicon
Cui Can,Ma Xiang-Yang and Yang De-Ren. Effect of ramping from low temperatures on oxygen precipitation in Czochralski silicon[J]. Chinese Physics B, 2008, 17(2): 1037-1042
Authors:Cui Can  Ma Xiang-Yang  Yang De-Ren
Abstract:
Keywords:Czochralski silicon   oxygen precipitates   annealing
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