| 草酸根桥联双核铜(Ⅱ)体系的磁耦合机理 |
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| 作者姓名： | 胡海泉 刘成卜 刘永军 张冬菊 毕思玮 |
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| 作者单位： | 1. 山东大学理论化学研究所'山东聊城师范学院物理系
2. 山东大学理论化学研究所, |
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| 基金项目： | 山东省自然科学基金(Z2000B02)和厦门大学固体表面国家重点实验室资助课题 |
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| 摘 要： | 应用密度泛函理论，采用对称性破损方法分析了草酸根桥联双核铜(Ⅱ)体系的磁耦合机理。在该双核体系中，两铜(Ⅱ)原子的自旋布居大小相等，符号相反，磁中心间的作用为反铁磁耦合。草酸根桥配体向磁中心的电子转移使得铜(Ⅱ)原子的自旋显著离域，这种离域有利于反铁磁耦合，草酸根桥配体中的碳原子上出现自旋极化。当铜(Ⅱ)原子的配位环境由平面四方形向四面体或四方锥变化时，反铁磁耦合的强度减弱。体系的沿前轨道主要由铜(Ⅱ)原子d轨道和配体原子p轨道构成，这种构成利于草酸根桥配体与磁中心之间的电子转移。
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| 关 键 词： | 桥键 铜络合物 双核配合物 对称性破损 密度函数 草酸根络合物 电子转移反应 磁耦合 |
| 修稿时间： | 2000-11-17 |
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