首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     


Microanalysis on controlled spot test paper by X-ray fluorescence
Authors:Jack L. Johnson  Bernard E. Nagel
Affiliation:(1) General Motors Research Laboratories, Warren, Michigan
Abstract:Summary X-ray instrumentation combined with a confined spot test technique has proven very useful for the determination of major constituents and trace constituents in microsamples, i.e., less than 3 mg of material. When the concentration of the major constituent is about 50%, the sample size needed is approximately 250mgrg. Samples containing as little as 0.1% of the element of interest require approximately 1 mg of sample. This technique is simple and rapid with respect to operator time and is quite versatile, being applicable to the determination of elements above atomic number 12.
Zusammenfassung Tüpfeln auf begrenzten Flecken, verbunden mit Röntgenfluoreszenzspektrometrie, hat sich für die Bestimmung von Haupt- und Spurenbestandteilen von Mikroproben unterhalb 3 mg sehr bewährt. Ungefähr 250mgrg Probe werden benötigt, wenn die Hauptbestandteile etwa 50% der Probe ausmachen; etwa 1 mg Probe wird benötigt, wenn das zu bestimmende Element in der Größenordnung von 0,1% vorliegt. Das Verfahren, das sich für die Bestimmung von Elementen mit einer Atomnummer über 12 eignet, ist einfach, vielseitig anwendbar und benötigt wenig Zeit.

Résumé L'utilisation mixte d'un appareillage de rayons X et d'une technique rigoureuse d'analyse à la touche s'est montrée très utile pour le dosage des constituants principaux et des traces sur des échantillons à l'échelle micro, c'est-à-dire de poids inférieur à 3 mg. Pour une concentration du constituant principal d'environ 50%, le poids de la prise d'essai doit être approximativement de 250mgrg. Les échantillons qui ne contiennent que 0,1% environ de l'élément qui intéresse, exigent approximativement 1 mg de prise d'essai. Cette technique est simple et rapide par rapport au temps dont dispose l'opérateur; elle présente une grande souplesse puisqu'elle est applicable au dosage des éléments dont le nombre atomique est supérieur à 12.
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号