Spectrographic determination of trace impurities in sulphur

Summary An emission spectrographic method for the estimation of traces of some common impurites viz., Al, Ba, Bi, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, Mg, Mn, Ni, Pb, Sn, Ti and V in high-purity sulphur is described. The impurities separated from 1-g sample, after removing sulphur as SO₂ by heating it in air at about 300° C, were dissolved in a small amount of 6M hydrochloric acid and loaded on 10 mg of carrier mixture containing 90% graphite and 10% sodium chloride in the 1/4 electrode crater. The spectra were exited in a D. C. arc carrying 13 A current for 45 seconds. Cobalt was used as an internal standard and sodium chloride as a carrier. The lowest detection limits lie in the range 0.005 to 0.05 ppm for the different elements. The precision of the method ranges from 6–19% for the elements analysed.

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Zusammenfassung Eine emissionsspektrographische Methode zur Bestimmung üblicher Spuren-Verunreinigungen in hochgereinigtem Schwefel, wie Al, Ba, Bi, Ca, Cd, Cr, Cu, Fe, Mg, Mn, Ni, Pb, Sn, Ti und V, wurde beschrieben. Die aus 1 g Schwefel, nach dessen Entfernung als SO₂ durch Erhitzen an der Luft bei etwa 300° C, abgetrennten Verunreinigungen werden in wenig 6-m Salzsäure gelöst und mit 10 mg Trägergemisch, bestehend aus 90% Graphitpulver mit 10% Natriumchlorid, in die Vertiefung einer 1/4-Elektrode eingebracht. Das Spektrum wird im Wechselstrombogen von 13 A für 45 sec angeregt. Kobalt dient als interner Standard mit Kochsalz als Träger. Die unterste Nachweisgrenze liegt bei 0,005–0,05 ppm für die verschiedenen angegebenen Elemente. Die Genauigkeit beträgt 6–19%.