软X射线发射谱及其应用

 20世纪前期,人们即认识到Ｘ射线发射谱是研究固体电子结构的重要技术。它是由于电子从已填充能态向组成粒子(原子或离子)内层原子实能级的跃迁而产生,因此,反映了固体中的电子按能态的分布。然而,因为实验条件和理论研究的限制,发展很慢。60年代光电子谱学的兴起,更在很大程度上减少了人们对这种研究方法的注意。近十几年来,Ｘ射线发射谱学(ＸＥＳ),特别是软Ｘ射线发射谱学(ＳＸＥＳ)获得了迅速发展,取得了不少重要的研究成果。这是与实验条件和理论工作的重大进展,此研究方法的一些独特优点及其多方面的应用价值密切相关的。Ｘ射线发射谱具有以下主要的优点。