| Rs标准测量系统的研究及其误差讨论 |
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| 引用本文： | 许华嵘,吴立勇,施建荣,曹春海,蔡卫星,孙国柱,王相元,钱鉴,杨森祖,吉争鸣,程其恒,吴培亨.Rs标准测量系统的研究及其误差讨论[J].低温物理学报,2002,24(4):268-275. |
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| 作者姓名： | 许华嵘 吴立勇 施建荣 曹春海 蔡卫星 孙国柱 王相元 钱鉴 杨森祖 吉争鸣 程其恒 吴培亨 |
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| 作者单位： | 南京大学电子科学与工程系,210093 |
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| 摘 要： | 本文主要介绍了按照目前国际上制定的超导薄膜表面阻抗Rs标准测量方案（IEC／TC90）设计并制造的Rs标准测量系统，对实验过程中系统的细节作了改进，测试精度及可靠性作了分析，实验及结果证明该标准的可行性，同时说明了我们的测试系统符合国际超导薄膜表面阻抗Rs标准 测量的要求。
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| 关 键 词： | 标准测量系统 误差 超导薄膜 无源微波器件 超导体 表面阻抗Rs |
| 修稿时间： | 2002年1月25日 |
RESEARCH OF STANDARD MEASUREMENT SYSTEM OF THE SURFACE RESISTANCE AND ITS ERROR DISCUSSION |
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