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| 半导体三极管的失效分析与可靠性研究 | |
| 引用本文： | 王少辉,项永金.半导体三极管的失效分析与可靠性研究[J].电子产品世界,2022,29(1):33-36. |
| 作者姓名： | 王少辉 项永金 |
| 作者单位： | 格力电器(合肥)有限公司,合肥 230088 |
| 摘 要： | 三极管在电路中主要起放大和开关作用,产品在实际应用中失效多单,经分析主要故障为短路与开路失效。通过X光、CT扫描、开封等方法分析研究,发现此故障为焊接不良、塌丝导致。对全流程包含设备的生产环节进行整改,并通过优化检测方法、增加显微镜检查以及X光全检等检测设备,提高产品可靠性。 |
| 关 键 词： | 虚焊 硅碎 塌丝 显微镜 X光透视 测试方法 |
Failure analysis and reliability research of semiconductor transistor |
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| Keywords: | |
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