芯片测试时如何减少电源电压波动之手法

随着半导体芯片的电源低电压化及测试高速化的发展，电源电流的变化也越来越大，由此在芯片测试时对电源电压波动抑制的要求也越来越高。为了在各种测试条件下都能给被测芯片提供更稳定的电源电压，我们开发了一种模块化的解决方法。该模块仅需简单连接在芯片测试用load board上，即能实现为芯片提供高速电流，并将电压波动抑制在50mV范围之内。接下来将结合模块实际使用情况来对该模块改善芯片正常动作环境范围进行介绍。