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不同添加气体对SiC材料SF_6干法刻蚀的影响
引用本文:柴常春,杨银堂,李跃进,姬慧莲,童红亮. 不同添加气体对SiC材料SF_6干法刻蚀的影响[J]. 微电子学, 2001, 0(1)
作者姓名:柴常春  杨银堂  李跃进  姬慧莲  童红亮
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所!陕西西安710071
基金项目:国家自然科学基金资助项目 !(6 9772 0 2 3)
摘    要:以六氟化硫 ( SF6)作为刻蚀气体 ,采用不同的添加气体 O2 或 N2 分别进行了 Si C薄膜的等离子体刻蚀 ( PE)工艺研究。实验表明 ,SF6中加入 O2 有助于 Si C材料刻蚀速率的提高 ;但是 ,在相同的刻蚀工艺条件下 ,N2 的加入只起到稀释气体的作用而未参与刻蚀反应 ,Si C刻蚀速率随 N2 的通入而有所降低

关 键 词:添加气体  等离子体刻蚀  SiC薄膜

Effects of Different Additive Gases on Dry Etching of SiC in SF_6
CHAI Chang-chun,YANG Yin-tang,LI Yue-jin,JI Hui-lian,TONG Hong-liang. Effects of Different Additive Gases on Dry Etching of SiC in SF_6[J]. Microelectronics, 2001, 0(1)
Authors:CHAI Chang-chun  YANG Yin-tang  LI Yue-jin  JI Hui-lian  TONG Hong-liang
Abstract:
Keywords:Additive gas  Plasma etching (PE)  SiC film
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