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| EM效应下众核处理器可靠性研究 | |
| 作者姓名： | 张凌嘉 覃志东 肖芳雄 |
| 作者单位： | 东华大学计算机科学与技术学院;金陵科技学院软件工程学院 |
| 摘 要： | 在EM效应下,以众核流程序为软件模型,建立了2D-Mesh结构众核处理器的可靠性模型.仿真研究表明:对于同一众核平台,当总体负载一定时,随着被分配任务核心的增加,单个任务周期内的处理器核心老化效应增大;当被绑定核心的数量一定时,核心在处理器上的位置越分散,核心的老化效应越低.研究的结论有利于高可靠众核系统的设计. |
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