紫外光度法测定PCB硫酸镍、乳酸镀金/镍液中的微量硫脲 |
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引用本文: | 李义国,王恒义,叶绍明,郑彤.紫外光度法测定PCB硫酸镍、乳酸镀金/镍液中的微量硫脲[J].印制电路资讯,2006(5):78-80. |
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作者姓名: | 李义国 王恒义 叶绍明 郑彤 |
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摘 要: | 给出了紫外光度法测定PCB化学镀金/镍中,以硫酸镍、乳酸为主的镀金/镍组分液中微量硫脲含量的技术条件。根据试验结果,PH至12,波长235nm,硫脲浓度在0ug/mL~6ug/mL范围内,线性系数r=0.9996,相对标准偏差小于1%,加标回收率为97.8%~101.6%。本分析方法仪器简单,适宜于硫酸镍、乳酸镀金/镍液中微量硫脲的分析。
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关 键 词: | 紫外光度法 硫脲 镀镍 分析 |
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