基于偏振串扰分析仪的LiNbO_3集成Y波导的测试方法

结合分布式偏振串扰分析仪,利用琼斯矩阵对LiNbO_3集成Y波导进行理论建模分析,并且得到了实验验证。实验证明,偏振串扰分析仪能评估出Y波导的整体消光比,且能够测试出Y波导内部的一个缺陷的串扰值,弥补了强度型消光比测试仪的不足。最后用单偏振光纤验证了Y波导测试结果的合理性。分布式偏振串扰分析仪在实际应用中对筛选性能更加优异的LiNbO_3集成光学芯片有着重要意义。