| 低温条件下光学厚度对Tm3+：YAG材料光谱烧孔孔深的影响 |
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| 引用本文： | 马秀荣,王夏洋.低温条件下光学厚度对Tm3+：YAG材料光谱烧孔孔深的影响[J].红外与激光工程,2015(3). |
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| 作者姓名： | 马秀荣 王夏洋 |
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| 作者单位： | 天津理工大学 计算机与通信工程学院 光电器件与通信技术教育部通信研究中心，天津 300384; 天津理工大学 电子信息学院 天津理工大学薄膜电子与通信器件重点实验室，天津 300384 |
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| 基金项目： | 天津市科技创新专项基金 |
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| 摘 要： | 通过理论与实验研究了光学厚度对Tm3+：YAG材料光谱烧孔孔深的影响。提出了一种用于分析光学厚度对光谱烧孔孔深影响的新模型。该模型从理论上推导了烧孔孔深与光学厚度的关系。根据提出的理论模型，当温度大于4K时，通过选择合适的光学厚度可以使光谱烧孔孔深得到最大值。最后通过使用合适的激光与Tm3+：YAG材料所形成的光谱烧孔实验证明了实验结果与理论分析是相一致的。
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| 关 键 词： | 光谱烧孔孔深 光学厚度 Tm3+:YAG 温度 |
Spectral hole depth dependence on optical length in Tm3+:YAG within cryogenic t emperature range |
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| Ma Xiurong,Wang Xiayang.Spectral hole depth dependence on optical length in Tm3+:YAG within cryogenic t emperature range[J].Infrared and Laser Engineering,2015(3). |
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| Authors: | Ma Xiurong Wang Xiayang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | spectral hole depth optical length Tm3+:YAG temperature |
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