| MEDICI程序简介及其在电离辐照效应研究中的应用 |
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| 引用本文： | 郭红霞,陈雨生,周辉,张义门,龚仁喜,吕红亮.MEDICI程序简介及其在电离辐照效应研究中的应用[J].计算物理,2003,20(4):372-376. |
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| 作者姓名： | 郭红霞 陈雨生 周辉 张义门 龚仁喜 吕红亮 |
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| 作者单位： | 1. 西北核技术研究所, 陕西 西安 710024;2. 西安电子科技大学微电子所, 陕西 西安 710071 |
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| 摘 要： | 简要介绍了二维半导体器件模拟软件MEDICI的基本特点和使用方法;应用MEDICI程序对MOSFET的总剂量效应、PN结的剂量率效应进行了仿真模拟,建立了电离辐照效应的物理模型,并将模拟结果与实验数据进行了比较.
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| 关 键 词： | MEDICI程序 器件模拟 总剂量效应 剂量率效应 |
| 文章编号： | 1001-246X(2003)04-0372-05 |
| 收稿时间： | 2002-05-24 |
| 修稿时间： | 2002年5月24日 |
Brief Introduction of MEDICI Software and Its Application in Ionization Radiation Effects |
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| GUO Hong-xia,CHEN Yu-sheng,ZHOU Hui,ZHANG Yi-men,GONG Ren-xi,L&#,Hong-liang.Brief Introduction of MEDICI Software and Its Application in Ionization Radiation Effects[J].Chinese Journal of Computational Physics,2003,20(4):372-376. |
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| Authors: | GUO Hong-xia CHEN Yu-sheng ZHOU Hui ZHANG Yi-men GONG Ren-xi L&# Hong-liang |
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| Institution: | 1. Northwest Institute of Nuclear Technology, Xi'an 710024, China;2. Microelectronics Institute of Xidian University, Xi'an 710071, China |
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| Abstract: | The MEDICI software of two dimensional simulation of semiconductor device is briefly introduced.Its characteristics and use are described.With the help of MEDICI,effects of total dose for MOSFET and dose rate for pn junction are simulated.Their physical models are set up.A theory approach is provided for the research of ionization radiation effects. |
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| Keywords: | MEDICI software device simulation effects of total dose effects of dose rate |
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