Zur Anwendung der Elektronenstrahl-Röntgenmikroanalyse in der Spurenanalyse

Zusammenfassung Die auf vielen Gebieten eingesetzte Elektronenstrahl-Röntgenmikroanalyse findet trotz der bis 10^–14 g reichenden Nachweisgrenze bisher in der Spurenanalyse keine Anwendung. Deshalb wurde eine Mikroelektrolysezelle entwickelt, die eine Abscheidung von Spurenbestand teilen auf Elektrodenoberflächen von etwa 0,0003 mm² sowie eine Überführung der auf kleinster Fläche konz. Substanzen in den Elektronen strahl-Mikroanalysator erlaubt.An Hand von Röntgenspektrogrammen, die mit einer aus einem kommerziellen Elektronenmikroskop und einem Röntgenspektrometerzusatz bestehenden Anordnung gemessen wurden, wird gezeigt, daß mit Hilfe des Konzentrierungsverfahrens eine röntgenspektroskopische Identifizierung von Metallspuren in der Größenordnung von 10^–9 g möglich ist. Da das angewandte Verfahren verbessert werden kann, scheint eine weitere Herabsetzung der Nachweisgrenze diskutierbar.

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Application of the electron beam- roentgen microanalysis in trace analysis

Summary The electron beam-roentgen microanalysis employed in numerous areas of study has hitherto found no application in trace analysis despite the finding that the detection limit goes as low as 10^–14 g. Consequently, a microelectrolysis cell has now been developed that permits the deposition of trace constituents on electrode surfaces whose areas approximate only 0.0003 mm² and also the transfer of the substances concentrated on tiny surfaces into the electron beam microanalyzer.By means of roentgen spectrograms, that were measured with a device made up of a commercial electron microscope combined with a roentgen spectrometer, it was shown that, with the aid of the above concentration procedure, it is feasible to accomplish a roentgen spectroscopic identification of trace elements in amounts whose order of magnitude is 10^–9 g. This procedure is doubtless subject to improvements and hence a lowering of the detection limit is a proper topic for discussion.