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XRF玻璃熔片法测定石英砂主次痕量组分
引用本文:蔡玉斌,陈苔,金骏,翁杰. XRF玻璃熔片法测定石英砂主次痕量组分[J]. 光谱实验室, 2012, 29(6): 3470-3473. DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2012.06.045
作者姓名:蔡玉斌  陈苔  金骏  翁杰
作者单位:1.国家建筑五金材料产品质量监督检验中心 浙江省杭州市九环路50号 310019;2.国家建筑五金材料产品质量监督检验中心 浙江省杭州市九环路50号 310019;3.国家建筑五金材料产品质量监督检验中心 浙江省杭州市九环路50号 310019;4.国家建筑五金材料产品质量监督检验中心 浙江省杭州市九环路50号 310019
基金项目:浙江省质量技术监督局资助项目
摘    要:在硅砂、硅石标样中引入分析纯Fe2O3、TiO2、Cr2O3熔融制备标准样片,应用X射线荧光光谱法同时测定石英砂中SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Na2O、K2O、Fe2O3、TiO2及Cr2O3,建立了石英砂成分校准曲线,解决了石英砂中痕量元素分析标准样品不足的问题.采用理论α系数和经验系数校正法克服了谱线重叠干扰和基体效应影响.用标准样品及未知矿物样品验证了方法的精密度和准确度,其结果与化学法的分析结果相符合.

关 键 词:X射线荧光光谱法  熔融法  石英砂  痕量元素

Determination of Primay and Secondary Trace Components in Quartz Sand Samples by XRF with Melting Glass
CAI Yu-Bin , CHEN Tai , JIN Jun , WENG Jie. Determination of Primay and Secondary Trace Components in Quartz Sand Samples by XRF with Melting Glass[J]. Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory, 2012, 29(6): 3470-3473. DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2012.06.045
Authors:CAI Yu-Bin    CHEN Tai    JIN Jun    WENG Jie
Abstract:
Keywords:
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