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| 分光晶体LiF质量的X射线检测 | |
| 引用本文： | 张龙生,郭常霖,黄月鸿.分光晶体LiF质量的X射线检测[J].物理,1981(1). |
| 作者姓名： | 张龙生 郭常霖 黄月鸿 |
| 作者单位： | 上海测试技术研究所 (张龙生)，中国科学院上海硅酸盐研究所 (郭常霖)，中国科学院上海硅酸盐研究所(黄月鸿) |
| 摘 要： | 氟化锂晶体具有较好的机械性能,容易加工,解理面具有高的X射线衍射强度和良好的色散本领,所以是电子探针微区x射线谱仪和荧光X射线谱仪的主要分光晶体之一.分光晶体质量的好坏直接影响仪器的性能.因此对分光晶体的质量进行检测是十分必要的. 氟化锂作为一种典型的晶体许多人进行过研究.很早 Gilman和Johston1]等曾用化学浸蚀法.Yoshimatsu Newkirk等2,5]曾用X射线形貌术研究过位错和亚晶界.Birks和 Seal6]曾用X射线方法研究过研磨、淬火和弯曲等工艺对LiF分光晶体衍射峰值强度和半高宽的影响. 本文提出用X射线衍射形貌技术和X射线… |
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