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电子束在VO_2薄膜中引起的价态、相结构和光学性能的改变
引用本文:卢勇,林理彬,卢铁城,甘荣兵,何捷.电子束在VO_2薄膜中引起的价态、相结构和光学性能的改变[J].强激光与粒子束,2001(6).
作者姓名:卢勇  林理彬  卢铁城  甘荣兵  何捷
作者单位:四川大学物理系,教育部辐射物理及技术重点实验室,四川大学物理系,教育部辐射物理及技术重点实验室,四川大学物理系,教育部辐射物理及技术重点实验室,四川大学物理系,教育部辐射物理及技术重点实验室,四川大学物理系,教育部辐射物理及技术重点实验室 四川成都610064,四川成都
基金项目:国家自然科学基金资助课题 (1992 85 10 )
摘    要:利用能量为 1 .7Me V,注量分别为 1 .2 5× 1 0 13 /cm2 ,1 .2 5× 1 0 14 /cm2 ,1 .2 5× 1 0 15/cm2 的电子束辐照 VO2 薄膜 ,采用 XPS,XRD等测试手段对电子辐照前后的样品进行分析 ,并研究了电子辐照对样品相变过程中光透射特性的影响。结果表明电子辐照引起 VO2 薄膜中 V离子出现价态变化现象 ,并使薄膜的 X射线衍射峰发生变化。电子辐照在样品中产生的这些变化显著改变了 VO2 薄膜的热致相变光学特性

关 键 词:VO2薄膜  变价  相结构  相变性能  电子辐照

Variations of valence state, phase-structure and optic properties of VO_2 thin films induced by electron irradiation
LU Yong,LIN Li-bin,LU Tie-cheng,GAN Rong-bing,HE Jie.Variations of valence state, phase-structure and optic properties of VO_2 thin films induced by electron irradiation[J].High Power Laser and Particle Beams,2001(6).
Authors:LU Yong  LIN Li-bin  LU Tie-cheng  GAN Rong-bing  HE Jie
Abstract:
Keywords:VO  2 thin film  valence variation  phase structure  phase-transition properties  electron irradiation  
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