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| 利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构 | |
| 引用本文： | 林清英,张燕征.利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构[J].电子显微学报,1994,13(6):457-457. |
| 作者姓名： | 林清英 张燕征 |
| 作者单位： | 冶金部钢铁研究总院 |
| 摘 要： | 利用扫描俄歇显微术研究碳的电子结构林清英，张燕征（冶金部钢铁研究总院，北京１０００８１）在研究新工艺和开发新材料的过程中，往往需要了解亚微米范围的成分和结构，而目前在表面分析方法中，扫描俄歇电子显微技术（ＳＡＭ）主要用于分析２ｎｍ深度内的元素。本文根... |
| 关 键 词： | 俄歇电子 扫描电子显微术 碳 电子结构 |
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