| 用理学3064X荧光仪分析碳 |
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| 引用本文： | 金德龙,陆晓明,吉昂. 用理学3064X荧光仪分析碳[J]. 分析测试技术与仪器, 1996, 0(3): 38-43 |
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| 作者姓名： | 金德龙 陆晓明 吉昂 |
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| 作者单位： | 宝山钢铁（集团）公司钢铁研究所，中国科学院上海硅酸盐研究所 |
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| 摘 要： | 在理学３０６４Ｘ荧光仪上采用十八烷基马来酸（ＯＨＭ）晶体作为色散单元，通过改造电路，调整晶体倾角，获得对碳分析的良好线性，在流气正比计数器（ＦＰＣ）窗膜分别为５μｍ和０．６μｍ条件下，碳元素的峰背比分别达到３８．９１和５４．０４。作者分析了白口铸铁和碳化硅中的碳，结果表明在理学３０６４Ｘ荧光仪上定量分析碳是可行了，具有快速、简便、准确、多元素同时分析的特点，可用于日常分析
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| 关 键 词： | X射线荧光仪 分析 碳 晶体 |
| 收稿时间： | 1996-04-05 |
| 修稿时间： | 1996-07-09 |
Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer |
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| Jin Delong,Lu Xiaoming and Ji Ang. Determination of Carbon with Rigaku 3064 XRF Spectrometer[J]. Analysis and Testing Technology and Instruments, 1996, 0(3): 38-43 |
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| Authors: | Jin Delong Lu Xiaoming Ji Ang |
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| Affiliation: | Baoshan Steel-Iron Research Institute, Shanghai 201900;Baoshan Steel-Iron Research Institute, Shanghai 201900;Shanghai Institute of Ceramics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050 |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | X-rayfluorescence spectrometer analysis carbon crystal |
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