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| 简并四波混频法测量掺半导体玻璃的三阶极化率X~((3)) | |
| 引用本文： | 立群,张拯,王文耀,杨少晨,邱佩华.简并四波混频法测量掺半导体玻璃的三阶极化率X~((3))[J].量子电子学报,1991(1). |
| 作者姓名： | 立群 张拯 王文耀 杨少晨 邱佩华 |
| 作者单位： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 201800 (立群，张拯，王文耀，杨少晨)，中国科学院上海光学精密机械研究所 201800(邱佩华) |
| 摘 要： | 使用530nm激光及简并四波混频方法,可测量得到后向反射波与探测波的强度比,从而精确给出了掺有CdS_xSe_(1-x)微晶玻璃的三阶极化率x。文中给出了两种样品的测量结果。 1.引言 近几年来,围绕着光通讯和光计算机的研究,人们正在研制和探索具有大的三阶非 |
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