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| 由杂质谱线强度确定等离子体电子温度 | |
| 引用本文： | 徐耀聪,袁文麟,骆翠贤,李华芝,符正良,罗俊林,林传立,曹阳.由杂质谱线强度确定等离子体电子温度[J].核聚变与等离子体物理,1984(2). |
| 作者姓名： | 徐耀聪 袁文麟 骆翠贤 李华芝 符正良 罗俊林 林传立 曹阳 |
| 作者单位： | 西南物理研究所 (徐耀聪，袁文麟，骆翠贤，李华芝，符正良，罗俊林)，成都科技大学 (林传立)，成都科技大学(曹阳) |
| 摘 要： | 本文给出由氢等离子体中高次电离的碳、氧杂质离子的光谱线强度随时间的变化所确定的等离子体电子温度。对角向箍缩装置等离子体作5-950真空紫外光谱与紫外、可见光谱的诊断表明,在第二半周期的0.5,1.0,1.5,1.8μs时,电子温度分别为17,90,200,260eV。 |
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