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封装工艺对SiC功率模块热电性能的影响
引用本文:袁凤坡,白欣娇,李帅,崔素杭,李晓波,王静辉.封装工艺对SiC功率模块热电性能的影响[J].半导体技术,2019,44(9):712-716,734.
作者姓名:袁凤坡  白欣娇  李帅  崔素杭  李晓波  王静辉
作者单位:中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄 050051;同辉电子科技股份有限公司,石家庄050200;河北省半导体照明产业技术研究院,石家庄 050200;同辉电子科技股份有限公司,石家庄050200;河北省半导体照明产业技术研究院,石家庄 050200;同辉电子科技股份有限公司,石家庄,050200
摘    要:

关 键 词:SiC  功率模块  热电特性  有限元分析  空洞率
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