首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术研究AlN单晶生长习性
引用本文:李娟,胡小波,高玉强,王翎,徐现刚. 透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术研究AlN单晶生长习性[J]. 人工晶体学报, 2008, 37(5): 1117-1120
作者姓名:李娟  胡小波  高玉强  王翎  徐现刚
作者单位:山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100;山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100
基金项目:国家自然科学基金,教育部跨世纪优秀人才培养计划,山东省自然科学基金
摘    要:采用透射电子显微术和高分辨X射线衍射技术对氮化硼坩埚中自发成核的AIN单晶生长习性进行了研究.结果表明,在低温下,AIN单晶显露面为(0001)面,随着温度的升高,AIN单晶显露面转化为(1120)面.沟槽结构是高温下得到的AIN单晶共有的显著特征,其取向沿[0001]方向.

关 键 词:透射电子显微术  高分辨x射线衍射仪  AIN单晶

Investigation on Growth Habit of AIN Crystal by TEM and HRXRD Method
LI Juan,HU Xiao-bo,GAO Yu-qiang,WANG Ling,XU Xian-gang. Investigation on Growth Habit of AIN Crystal by TEM and HRXRD Method[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2008, 37(5): 1117-1120
Authors:LI Juan  HU Xiao-bo  GAO Yu-qiang  WANG Ling  XU Xian-gang
Abstract:
Keywords:
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《人工晶体学报》浏览原始摘要信息
点击此处可从《人工晶体学报》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号