|
|||||
|
|
Photoelectron spectroscopic and ellipsometric investigation of In0.53Ga0.47As surfaces after wet chemical etching |
|
| Authors: | M. Procop K. Wandel |
| Affiliation: | 1. Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung, Unter den Eichen 87, W-1000, Berlin 47 2. Institut für Festk?rperphysik, Humboldt-Universit?t Berlin, Invalidenstr. 110, O-1040, Berlin |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 SpringerLink 等数据库收录！ | |