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杂志ISSN号
某些有机磷化合物负离子电子轰击(NEI)质谱研究
作者姓名:
朱育芬
唐太志
詹东亮
金京秀
作者单位:
天津半导体研究所
摘 要:
本文应用低分辨负离子电子轰击质谱及亚稳分析数据,研究了12种有机磷化合物的负离子质谱特性,探讨了其碎裂规律。指出取代基的性质及其位置对分子异构化重排有显著的影响。
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