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Material properties and effective work function of reactive sputtered TaN gate electrodes
Authors:Zhang Manhong  Huo Zongliang  Wang Qin  Liu Ming Laboratory of Nanofabrication  Novel Device Integration
Institution:Zhang Manhong~ ,Huo Zongliang,Wang Qin,and Liu Ming Laboratory of Nanofabrication and Novel Device Integration,Institute of Microelectronics,Chinese Academy of Sciences,Beijing 100029,China
Abstract:
Keywords:metal gate  thermal stability  effective work function  dipole  
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