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1.
The Li oxides species formed on Li over-deposited V2O5 thin film surfaces have been studied by using X-ray and UV induced photoelectron spectroscopy (XPS and UPS). The photoelectron spectroscopic data show that the Li over-deposited V2O5 system itself is not stable. Further chemical decomposition reactions are taken place even under UHV conditions and lead to form Li2O and Li2O2 compounds on the surface. The formation of Li2O2 causes to arise an emission line at about 11.3 eV in the valence band spectra.  相似文献   
2.
对目前在UPS方面研究的焦点问题作了阐述 ,并重点介绍了UPS网络控制系统的实现方法、系统功能和技术特点  相似文献   
3.
刘瑛 《山西科技》2007,(1):128-129
文章介绍了UPS在实际应用中的供电方案及UPS系统的测试内容。  相似文献   
4.
Four vanadium oxide layers on mineral TiO2(001)‐anatase supports with different thickness (3–33 Å) were prepared with reactive d.c. magnetron sputtering and were extensively studied with photoelectron spectroscopy. Al Kα radiation and 150 eV synchrotron radiation were used as excitation sources. The evolution of the 2p, 3s and 3p core level line shapes of V and Ti as a function of the vanadium oxide thickness was studied, as well as the O1s and O2s core lines and the valence band. All the V2p spectra of the deposited vanadium oxide layers consist of at least 60% V5+, the rest being V4+. The V3p region is complicated by multiplet splitting, which prevents the determination of the vanadium oxidation state. The V3p multiplet splitting is different for the two excitation energies. No reduction of the titania support surface due to the vanadium oxide deposition was observed. Copyright © 2006 John Wiley & Sons, Ltd.  相似文献   
5.
运用LEED,UPS和HREELS等表面技术研究了氯吸附至(c)阶段的Ag(111)表面结构.结果表明,表面上有三维的AgCl(111)生成,其生长按修正的Stranski-Krastanov模式进行.伴随着AgCI(111)生长的同时,表面上产生缺陷.这种缺陷只有在氯吸附至(c)阶段时表面上形成三维AgCI的过程中才能产生,它一旦在表面上形成后,表面上氯的存在与否对其不产生影响.本文提出了一个(c)阶段时的Cl/Ag(111)体系的结构模型.  相似文献   
6.
对于NO分子轨道的能级次序现有两种不同的说法,不少人根据NO与O_2~+是等电子体,由O_2~+分子的能级次序确定NO分子组态。本文用NO和O_2~(+)从头计算结果以及NO的紫外光电子能谱相结合的方法说明NO的5σ轨道是弱成键轨道,5σ的轨道能稍高于1π轨道能,也就是说NO的能级次序是与N_2分子相同的;NO与O_2~+虽是等电子体,但是能级次序并不相同,因此由O_2~+的能级次序确定NO分子的电子组态是不妥的。  相似文献   
7.
用同步辐射角分辨偏振紫外光电子谱对K/Ru(1010)面上吸附分子轨道的对称性测量发现:结合能在11、.2eV的CO-4a1(4σ)分子轨道对s偏振光(在沿〈1210〉的人射面)是禁戒的。结果表明由于K的强烈影响,CO的分子轨道重新排列(sP^2杂化)。依据选择定则和分子轨道的对称性6说明,sp^2再杂化的CO分子吸附的桥位取向是〈1210〉晶向。  相似文献   
8.
In this review, thin films of SiO2 on Mo(1 1 2) and MgO(1 0 0) on Mo(1 0 0) have been characterized using metastable impact electron and ultraviolet photoelectron spectroscopies (metastable impact electron spectroscopy (MIES) and ultraviolet photoelectron spectroscopy). The electronic and chemical properties of the thin films are identical to those of the corresponding bulk oxides. For different prepared defective SiO2 surfaces, additional features are observed in the band-gap region. These features arise from vacancies or excess oxygen and are consistent with theoretical predictions of additional occupied states in the band-gap due to point defects. Extended defect sites on SiO2 and MgO are identified using MIES by a narrowing of the O(2p) features with a reduction in the density of extended defect sites. MIES of adsorbed Xe (MAX) is also used to estimate the density of extended defect sites. Furthermore, it is shown that CO is an appropriate probe molecule for estimating the defect density of MgO surfaces. Upon Ag exposure, the change in the work function of a low defect MgO(1 0 0) versus a high defect surface is markedly different. For a sputter-damaged MgO(1 0 0) surface, an initial decrease of the work function was found, implying that small Ag clusters on this surface are electron deficient. In contrast, for SiO2 no significant change of the work function upon Ag exposure with increasing defect density was observed. On MgO(1 0 0), the presence of defect sites markedly alter the electronic and chemical properties of supported Ag clusters. Such a strong influence of defect sites was not found for Ag clusters on SiO2.  相似文献   
9.
介绍了UPS不间断电源的分类方式,阐述了智能高频在线式UPS的电路结构和工作原理,指出了UH11—0060型UPS安全使用与日常维护检修应注意的事项,总结了UPS常见故障及处理方法。  相似文献   
10.
为提高控制系统的可靠性与稳定性,电磁兼容技术在UPS的设计过程中已成为必须考虑的问题.阐述了数字化UPS设计方案,分析了EMI的来源,并从干扰源的抑制、系统接地、电磁屏蔽、隔离技术、合理的结构布局和布线等方面进行了EMC设计的分析.结果表明设计的电路工作可靠、稳定,达到了预期的设计目的.  相似文献   
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