首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   514篇
  免费   71篇
  国内免费   67篇
化学   53篇
晶体学   1篇
力学   75篇
综合类   3篇
数学   18篇
物理学   291篇
综合类   211篇
  2024年   5篇
  2023年   5篇
  2022年   22篇
  2021年   7篇
  2020年   12篇
  2019年   7篇
  2018年   7篇
  2017年   11篇
  2016年   12篇
  2015年   18篇
  2014年   28篇
  2013年   39篇
  2012年   22篇
  2011年   48篇
  2010年   29篇
  2009年   39篇
  2008年   31篇
  2007年   53篇
  2006年   28篇
  2005年   27篇
  2004年   26篇
  2003年   28篇
  2002年   17篇
  2001年   16篇
  2000年   9篇
  1999年   5篇
  1998年   9篇
  1997年   16篇
  1996年   10篇
  1995年   11篇
  1994年   3篇
  1993年   6篇
  1992年   3篇
  1991年   2篇
  1990年   5篇
  1989年   4篇
  1988年   7篇
  1987年   3篇
  1986年   4篇
  1985年   5篇
  1984年   1篇
  1982年   3篇
  1981年   1篇
  1980年   1篇
  1979年   2篇
  1977年   2篇
  1976年   2篇
  1973年   1篇
排序方式: 共有652条查询结果,搜索用时 9 毫秒
1.
HIRFL–CSR加速器中束流与真空中剩余气体的碰撞损失   总被引:1,自引:1,他引:0  
研究了重离子加速器中束流与真空中剩余气体的碰撞损失过程和碰撞截面,在依据大量实验数据的基础上,提出了一组计算离子一原子的电荷交换截面的经验公式.以兰州重离子加速器HDRFL及冷却储存环CSR为例,给出了依据碰撞截面的公式计算束流在加速器真空中的传输效率的方法,并计算了在不同真空度下HIRFL的ECR源轴向注入束运线、注入器SFC、前束运线、主加速器SSC和后束运线等不同加速阶段及CSR的传输效率,并提出合理的真空度要求.HIRFL的真空分布测量和束流的损失测量证明了该计算方法的可靠性.  相似文献   
2.
Cluster ions have been recognized as a superb primary species in time of flight secondary ion mass spectroscopy (ToF-SIMS) compared with monatomic primary ions, as they significantly enhance the secondary ion yields from bulk samples. Self-assembled monolayers provide an important system for studying the fundamental mechanism involved in the yield enhancement.We used a gold cluster ion source to analyze a new type of self-assembled monolayer: a fluorocarbon-grafted polyethylene terephthalate. In addition to the structure details, which helped to understand the grafting mechanism, ToF-SIMS analysis revealed that fluorocarbon secondary ion yield enhancements by cluster ions were due to the enhanced sputter efficiency. A larger information depth may also be expected from the enhancement. Both mathematical definitions of damage cross-section and disappearance cross-section were revisited under a new context. Another cross-section parameter, sputter cross-section, was introduced to differentiate the beam induced sputter process from damage process.  相似文献   
3.
4.
杨杰  张慧  李爱纯  高天 《科学技术与工程》2022,22(35):15463-15469
变截面悬臂空心柱是一类在工程中有着广泛应用的特殊结构。为了研究其在冲击荷载作用下的动力特性,通过准静态极限分析与冲击动力学理论,对其在等厚度与变厚度两种情形下的冲击响应展开研究。定义了荷载位置参数与塑性铰位置参数,并根据荷载位置参数给出了塑性铰位置的判定条件。利用动量定理与动量矩定理推导了悬臂端加速度的表达式以及塑性铰位置参数的控制方程。根据分布惯性力与剪力的微分关系以及剪力与弯矩的微分关系分别推导了剪力和弯矩的表达式;分析了荷载位置参数对塑性铰位置参数与悬臂端加速度的影响,以及塑性铰位置参数对悬臂端加速度的影响。算例结果表明:悬臂端加速度与塑性铰位置参数的本文解与数值解吻合良好;塑性铰位置参数随荷载位置参数的增大而增大,且二者关系几乎呈线性;悬臂端加速度随荷载位置参数、塑性铰位置参数的增大而减小。可见当冲击荷载明显超过固定端的静态极限荷载,且荷载位置参数小于临界荷载位置参数时,变截面悬壁空心柱将在柱中产生塑性铰。因此,出于结构可靠性考虑,工程中应对此类问题予以重视。  相似文献   
5.
通过对汽车前灯散射角、隧道标准断面以及驾驶人在隧道中驾驶规律的研究,并考虑汽车左转与右转行驶的不同特点,计算出了不同设计速度下满足山区高速公路隧道内螺旋展线停车视距的圆曲线最小半径。结果表明:《公路路线设计规范》规定的圆曲线最小半径不能满足高速公路曲线隧道内停车视距的要求;计算给出的最小半径不仅可以满足高速公路曲线隧道内停车视距的要求,而且可以保证隧道不加宽和超高不过大的要求,保持隧道内轮廓的统一,减少了设计和施工难度。  相似文献   
6.
带电Higgs粒子在2HDM模型中具有不同于标准模型的显著特征,寻找带电Higgs粒子是验证2HDM模型的一个非常重要方面。计算了两个光子的碰撞过程γγ→tb-H-的最低阶(树图级)的散射截面,讨论了散射截面与模型参数tanβ和带电Higgs粒子的质量之间的关系。计算结果表明:当模型参数tanβ在5~40时,散射界面的数量级可达10-2pb;而带电Higgs粒子的质量大致在100~400GeV。  相似文献   
7.
无压流圆形断面收缩水深的近似计算公式   总被引:3,自引:0,他引:3  
无压流圆形断面收缩水深的计算需求解高次隐函数方程,理论上无解析解,传统的图解法或者试算法计算过程复杂,费时费力.通过引入无量纲收缩水深,对无压流圆形断面收缩水深的基本方程进行恒等变形,得到了快速收敛的迭代公式,再与合理的迭代初值配合使用,得到无压流圆形断面收缩水深的近似计算公式.误差分析及实例计算表明,在工程常用范围内,收缩水深的最大相对误差小于0.72%.近似计算公式形式筒捷、精度高、适用范围广.  相似文献   
8.
文章研究了外加电场下谐振子量子线的电子拉曼散射.利用有效质量近似,以GaAs材料为例,计算了微分散射截面,结果表明,谐振子频率和外加电场的强度对拉曼光谱均有影响.拉曼光谱的峰值随着外加电场强度的增大而增大;在恒定的外加电场下,与电场方向相同的谐振子频率只影响峰值的大小,而与电场方向垂直方向的谐振子频率还对峰值的位置有影...  相似文献   
9.
轨道车辆S形截面结构件冲压成形容易产生回弹变形,回弹变形又会带来制件上的孔洞和局部形状的二次形位误差。以轨道车辆S形截面结构件为对象,参照坯料的排样设计流程,通过制件工艺分析、CAE仿真分析,初步设计了坯料的十工序排样;从成形工艺、模具概要设计角度详细分析了坯料排样各工序的设计目的;依据所设计的坯料排样完成了级进模设计,并在所设计、制造、调试好的级进模上做了实冲试验。结果表明:所设计的十工序排样图适用于轨道车辆S形截面结构件的冲压加工。对该坯料排样设计方法与方案推广应用,具有较好的经济效益和社会效益。  相似文献   
10.
单片机在光度测试中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
张小林  罗来成 《江西科学》2004,22(2):118-121
光照度和光功率是基本的光度指标。提出了将单片机技术应用到光度测量中,以提高测量的精度。同时,该仪器作为一个智能测量头,可直接与PC机进行数据通信。介绍了系统的光学构成及数据处理方法。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号