一种实用的多数据库量子信息检索协议

针对目前量子私有信息检索不能适用与云存储的多数据库问题,基于现在成熟的量子密钥分发方法,提出了一种适合在多数据库环境下,实用的量子私有信息检索协议。对于不同大小的数据库,协议可通过调节参数θ和k,在保证数据库安全及用户隐私的情况下,完成信息的检索。性能分析结果表明,协议的通信复杂度低,检索成功率高、易于实施。     

数字化正弦平方脉冲信号

依据正弦平方脉冲的数学方程及其频谱分布，分别导出了与理想和标称视频带宽相对应的正弦平方脉冲的数学表达式及其编程生成方法。实验表明，此法不仅精确，而且便于修改参数，并可直接读人数字电视系统，来测定视频线性响应。     

Multiple Scan Chain Design for Two-Pattern Testing

Non-standard fault models often require the application of two-pattern testing. A fully-automated approach for generating a multiple scan chain-based architecture is presented so that two-pattern test sets generated for the combinational core can be applied to the sequential circuit. Test time and area overhead constraints are considered.     

基于ASP.NET技术的新闻发布系统的设计与实现

完整描述了一种在部队师旅级单位通用的新闻发布系统。首先根据用户的特点,对系统进行了需求分析与功能模块划分,然后在此基础上从系统架构、系统流程和数据库设计等3个方面阐述了系统设计中的关键点,并以设计用户登录界面为例写出了部分功能的实现程序,最后对其在中小型企业建站中的应用进行了展望。     

从数据库到数据仓库——广电未来的制胜武器

在目前数据爆炸、信息匮乏的情况下，需要利用数据仓库系统集成1个或多个独立传统数据库数据，通过分析海量数据发现市场潜在规律，获取商业信息以支持商业决策，这将是广电未来的制胜武器。     

基于SpatialWare的地理数据访问安全性研究

地理信息系统的应用越来越广泛,特别是基于网络的GIS的发展使地理空间信息通过网络被多用户所共享,因此必须考虑地理数据访问的安全性。文章以MapInfoSpatailWare空间数据引擎为研究对象,给出了基于此模式的数据访问安全性解决方案。     

软件集成测试技术研究

首先分析了集成测试的原理和特点，并指出了集成测试的重要性。然后结合传统软件与面向对象软件开发的方法和技术，详细介绍了传统软件的集成测试方法和策略，并深入分析了面向对象软件集成测试的原理和方法。     

异构数据集成方法研究与实现

为解决异构数据集成的复杂性问题，文章提出了一种异构数据同步的新方法——半集成式中间件法。该方法成功地应用在重庆市社会保障综合信息系统中，具有易于实现、可扩展性、跨平台性和效率高等特点。     

数据库新技术浅析

介绍了数据库技术的发展及现状，数据库技术与多学科技术的有机结合，根据数据库技术的延伸与发展，论述了数据库建设中应注意的几个问题。     

Signal Integrity: Fault Modeling and Testing in High-Speed SoCs

As we approach 100 nm technology the interconnect issues are becoming one of the main concerns in the testing of gigahertz system-on-chips. Voltage distortion (noise) and delay violations (skew) contribute to the signal integrity loss and ultimately functional error, performance degradation and reliability problems. In this paper, we first define a model for integrity faults on the high-speed interconnects. Then, we present a BIST-based test methodology that includes two special cells to detect and measure noise and skew occurring on the interconnects of the gigahertz system-on-chips. Using an inexpensive test architecture the integrity information accumulated by these special cells can be scanned out for final test and reliability analysis.