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1.
采用0.8μm标准数字CMOS工艺(VTN0=0.836V,VTP0=0.930V),设计并流片验证了具有宽工作电压范围(3~6V),可作SOC系统动态电源管理芯片内部误差放大器应用的单电源CMOS运算放大器。该误差放大器芯核同时具有适合低电压工作,并对工艺参数变化不敏感的优点。对于相同的负载情况,在3V的工作电压下,开环电压增益AD=83.1dB,单位增益带宽GB=2.4MHz,相位裕量Φ=85.2°,电源抑制比PSRR=154.0dB,转换速率Sr=2.2V/μs;在6V工作电压下,AD=85.1dB,GB=2.4MHz,Φ=85.4°,PSRR=145.3dB,Sr=3.4V/μs。 相似文献
2.
3.
Lance Nielsen 《Acta Appl Math》2002,74(3):265-292
Stability properties of Feynman's operational calculus are addressed in the setting of exponential functions of noncommuting operators. Applications of some of the stability results are presented. In particular, the time-dependent perturbation theory of nonrelativistic quantum mechanics is presented in the setting of the operational calculus and application of the stability results of this paper to the perturbation theory are discussed. 相似文献
4.
连续工作型电子装备战备完好性预计 总被引:1,自引:1,他引:0
从战略完好性的实际内涵出发,考虑到装备实际工作中可能处于不同的工作状态,因而其战略完好性模型也应有所有同。对于处于连续工作状态的电子装备,即使工作中发生故障,只要执行下次任务前能修好,就不影响装备的战略完好性。基于此,得出了电子装备处于连续工作状态下的战略完好性预计模型,并在对应的条件下对此模型的得出进行了缜密的推理。 相似文献
5.
Software failures have become the major factor that brings the system down or causes a degradation in the quality of service. For many applications, estimating the software failure rate from a user's perspective helps the development team evaluate the reliability of the software and determine the release time properly. Traditionally, software reliability growth models are applied to system test data with the hope of estimating the software failure rate in the field. Given the aggressive nature by which the software is exercised during system test, as well as unavoidable differences between the test environment and the field environment, the resulting estimate of the failure rate will not typically reflect the user‐perceived failure rate in the field. The goal of this work is to quantify the mismatch between the system test environment and the field environment. A calibration factor is proposed to map the failure rate estimated from the system test data to the failure rate that will be observed in the field. Non‐homogeneous Poisson process models are utilized to estimate the software failure rate in both the system test phase and the field. For projects that have only system test data, use of the calibration factor provides an estimate of the field failure rate that would otherwise be unavailable. For projects that have both system test data and previous field data, the calibration factor can be explicitly evaluated and used to estimate the field failure rate of future releases as their system test data becomes available. Copyright © 2002 John Wiley & Sons, Ltd. 相似文献
6.
7.
设计了一种适合在低电源电压下工作的前馈型输入级放大结构,在全摆幅的动态工作范围内,输入级跨导保持不变,采用负载电流补偿以保证增益近似恒定,输出采用前馈型AB类输结构,实现全摆幅输出。 相似文献
8.
求线性规划初始可行基的新方法 总被引:9,自引:3,他引:6
本文提出一个求线性规划初始可行基的新算法,该算法不仅避免了人工变量,而且理论分析及初步的数值实验结果表明其效率更高。 相似文献
9.
10.