一种STN-LCD驱动电路的可靠性分析与设计

文章主要对一种常规的小规模STN-LCD驱动电路在使用过程中出现的可靠性失效问题进行分析和讨论,对在干扰环境中工作的集成电路的芯片级的抗干扰和可靠性设计提出了一些建议及总结。在实际分析过程中,采用模拟再现实际使用环境进行实验等方式,对电路出现的失效现象进行再现和定位。通过对失效结构的设计线路和失效机理的分析,对具体引起失效的上电复位结构和通信端口结构进行了设计改进。目前,经过实际流片和测试,改进方案通过了验证。     

多畴STN—LCD的研究

本文用光学模拟计算方法研究了多畴及无序ＳＴＮ－ＬＣＤ的电光特性。从光学角度而言，试图制造无序ＳＴＮ－ＬＣＤ的努力是没有意义的。无论对正性还是对负性显示模式，多畴ＳＴＮ单位象元的畴数量不应超过四个。具有２或４畴的ＳＴＮ－ＬＣＤ确实能够提高视角的均匀性，特别是４畴器件可以获得非常好的视角均匀性，具有一定的研究和开发意义。     

STN-LCD低温发泡临界温度估算

导出了STN产品低温下出现黑点的临界温度估算公式，讨论了影响临界温度的各种因素，估算了在特定条件下出现低温黑点的临界温度。     

STN-LCD盒厚的控制方法

本文从STN－LCD的构造、材料选择、制作工艺及环境管理等方面，综合介绍了STN－LCD盒厚均匀性的有效控制方法。     

320×240黑白STN-LCD的研制

STN－LCD的背景色易使彩色显示失真，所以黑白STN－LCD的研制是极其重要的。文中介绍了研制黑白模式STN的几种方法及D－STN的结构、工作原理和制造工艺。     

STN-LCD残影显示的原理分析及实验研究

影像残留显示现象存在于各类LCD中,大多为离子效应所引起。针对这一问题,分析了不同配向膜对自由离子电荷的吸附情况,以及选用合适的配向膜搭配不同液晶材料、盒内自由离子电荷的浓度情况等对残影显示的影响。实验发现,选用合适的配向膜,增加重配向时间,有利于消除残影现象;在一定配向膜基础上,选用低阈值液晶或选用添加抗静电剂液晶,更容易消除残影现象。不过,在实际运用中,重配向时间的增加会影响液晶陡度;低阈值液晶会使液晶陡度变差同时使响应速度变慢,且容易出现显示不均;抗静电剂液晶也会导致显示不均。因此在实际运用中,必须平衡以上各条件,才能在不影响其他性能前提下,更有效地改善残影现象,提高STN-LCD的显示质量。     

彩色STN-LCD模块

本文介绍了彩色STN-LCD模块的内部结构、证件部件，以及设计选用要求。     

超扭曲向列相液晶显示的优化

本文采用双膜补偿方法消除超扭曲液晶显示器中由于双折射效应在关态时带有的颜色，应用扩展琼斯矩阵方法对双膜补偿超扭曲液晶显示器进行优化，得到黑白显示和宽视角。对优化方案的具体步骤和最终结果进行了讨论。     

热压工艺对塑料衬垫料永久性形变的影响

研究两种不同的STN—LCD边框科的最终厚度及其与热压工艺的关系。发现边框的最终厚度不仅决定于边框料的组分，而且受热压工艺的影响。边框厚度随热压时间的延长、热压温度的升高和热压压力的增大而减小。     

超扭曲向列型液晶显示器的光学特性

用 Frank 的连续弹性体理论和光学“4×4”矩阵法,研究和计算了STN-LCD 的光学性质,包括光透过率与外加电压、视角、波长的关系。计算表明:(1)较大的弹性比 K_(33)/K_(11),较小的 K_(22)/K_(11),较小的介电各向异性Δε,较小的预倾角θ_0将会提高 STN-LCD 的多路寻址能力;(2)T 随视角的交化很小,说明STN-LCD 具有宽的观看范围。明显优于 TN-LCD;(3)减小光学参量Δ_n·d 和改变偏振片的放置可以消除 STN-LCD 的固有色散(OMI-LCD),但这是以牺牲多路寻址能力为代价的。