靶面激光光斑尺寸原位测量的研究

提供了一种简便易行的靶面激光光斑尺寸原位测量的方法。从高斯光束的横向光强分布特性出发,建立了激光烧蚀斑半径与辐照激光能量、光斑尺寸、烧蚀阈值间的关系式,模拟分析发现辐照激光光斑尺寸对烧蚀斑半径随辐照能量变化曲线有较大影响。对于脉宽为2 ms,波长为1064 nm的激光,实验测量了不同能量激光辐照下相纸烧蚀斑半径,并用推导出的关系式拟合测量数据,获得了靶面处光斑尺寸和样品烧蚀阈值。同时,也测量了不同位置处的光斑尺寸和样品烧蚀阈值,对高斯光束束腰位置和样品烧蚀阈值的光斑尺寸效应进行了验证。研究结果表明该技术结果可靠,简单高效。该技术可以为高能激光与固体物质相互作用的基础研究和激光加工等应用领域中实现简单方便地测量靶面光斑尺寸提供帮助。     

利用SoC平台设计并验证MPEG-4/JPEG编解码IP

随着硅工艺在几何尺寸上的不断缩小,芯片的设计者事实上能将所有系统功能整合在单一芯片上。许多芯片制造商和设计者在面对客户对于多功能、低功耗、低成本及小型化的需求时,认为SoC的高集成度是解决问题的万能药方。不幸的是,设计的生产力跟不上摩尔定律的速度。     

大有可观

英文里有个用途很广的说法叫size matters，大致的意思是说尺寸大小很重要，从刺激饮食男女原始冲动的某些特殊器官，到市场经济里说的规模效益都能用它来描述。尺寸有时候真的很关键，尤其是对下面的这些产品来说，“大”已经成了顶级奢华的代名词．而且“大”的标准还在不断刷新着，“没有最大，只有更大”才是永恒的主题。[编者按]     

凌华科技推出mIPC-E系列紧凑型壁挂整机

Intersil公司宣布推出一个免费的．基于Web的交互式工具．可以模拟运算放大器元件．帮助用户在Intersil众多产品中选择合适的器件。根据用户提供的输入和输出规格．运算放大器的iSim工具将找出所有适合于给定应用的Intersil器件。大多数情况下．也可通过仿真获得电路性能的即时反馈。     

LCD与OLED驱动IC产业研究

由中电网(ChinaECNet)、中国电子企业协会采购分会(CEPA)、展望咨询公司、中国电子器材总公司联合主办的 "2006全球IC市场分析与预测高峰论坛"于2006年4月13日在深圳圆满落下帷幕。国内外最权威的IC市场分析人士以前所未有的强大阵容齐聚一堂,共同探讨IC市场现状,展望产业发展走向。在这里,我们将演讲的部分精华内容整理成文,以飨读者。     

机器视觉软件iGauge特性介绍--精度和重复性(一)

iGauge是一个非常容易使用的机器视觉系统，主要用于测量--距离、孔径以及零件的其他尺寸。尽管利用机器视觉测量同接触式以及激光测量的方法有所不同，但是它们的目的相同：使测量结果具有高精度、高重复性。