JSM-35CF扫描电镜字符电路分析及维修

我单位 1981年引进的ＪＳＭ 35ＣＦ扫描电镜 ,至今已连续工作 2 0年了。荧光屏字符显示曾出现一个故障 ,现象是荧光屏下部的倍率字符如 :Ｘ15 0 0 0的个位零字符始终存在不能消除 ,换为 10的低倍率时 ,则显示为Ｘ15　 0 ,而面板上的数码管显示的放大倍率是正确的。根据仪器生产厂家提供《ＪＳＭ 35ＣＦＳＣＡＮＮＩＮＧＭＩＣＲＯＳＣＯＰＥＣＩＲＣＵＩＴＤＩＡＧ ＲＡＭＳ》[1] ,对该荧光屏字符显示电路作一个电路分析。本文所涉及到的电子元件符号与原仪器电路原理图一致。1　荧光屏字符显示电路分析荧光屏字符显示在屏幕的下端 ,分为加…     

714你让人难忘——纪念荧光屏卫星卅年

荧光屏卫星的电波，在覆盖前苏联的大部分地方之外，也覆盖了中国的一部分地方，见附图。这颗卫星虽然不大。但是它的功率却不小。因当时只使用一个转发器，而且传送的是模拟电视信号，所以当时的714这颗卫星电视的发射功率是200W。虽然当年把荧光屏这颗卫星称之为通信卫星，但这颗卫星在当时所起到的作用，以及它的技术参数，也可以称为广播卫星。     

YAG荧光屏的制作与性能

介绍一种YAG荧光屏的结构、制作以及性能。YAG荧光屏不同于传统玻璃荧光屏的一个显著特点就是以具有高热导率、高机械强度、良好绝缘性和透光性的单晶YAG代替玻璃作为荧光屏粉层衬底。我们在YAG衬底上采用离心沉淀法制作荧光粉层;有机膜采用手工旋涂法工艺制作;铝膜采用真空电阻蒸发法制作,并讨论了铝膜的最佳厚度选取。3英寸红、绿、蓝荧光屏在0.5mA电流、29kV电压下亮度分别是6.2×10     

高效透明导电膜荧光屏的研究

介绍了一种新型荧光屏结构,采用透明导电膜代替传统荧光屏中的铝膜作电极.分别测试了新型荧光屏和传统荧光屏的加电特性.实验结果表明新型荧光屏具有较高的耐压性能,对提高X射线变像管的空间分辨率有重要作用,而且能延长变像管的寿命.采用透明导电膜制作荧光屏还具有工艺简单,成本低和成品率高的优点.     

射线检测方法有哪些？

射线检测通常根据内部结构显示方法不同可分为：射线照相法、荧光屏法（发展为工业电视）、干板照相法、层析摄影（工业CT）技术、数字显示技术等。     

射线检测方法有哪些？

射线检测通常根据内部结构显示方法不同可分为：射线照相法、荧光屏法（发展为工业电视）、干板照相法、层析摄影（工业CT）技术、数字显示技术等。     

高分辨率阴极射线管的荧光屏

本文分析了小屏幕阴极射线管（ＣＲＴ）的分辨率和画面的质量。从中可知，图象的分辨率决定于光点的大小，而光点的尺寸又取决于电子枪的设计和荧光粉的粗细，并且荧光屏上面画的质量决定于填充亮度（Ｐａｃｋｉｎｇ ｄｅｎｓｉｔｙ）以及荧光粉颗粒的层数。为此，我们研制了１．５层厚的荧光屏，其中用干粉技术把填充空隙（Ｐａｃｋｉｎｇ Ｖｏｉｄｓ）减到最少，这种新制出来的荧光屏用在１．２７ｃｍ（０．５英寸）的ＣＲＴ上，     

利用红外转换屏研制短波红外探测器

采用重力沉积技术制备了CaS:Eu2+,Sm3+红外上转换荧光屏,确定了最佳制屏工艺参数,研究了红外转换荧光屏的性能。设计和制作了耦合短波红外CCD 相机,对相机的成像性能进行了试验,结果表明研制的短波红外CCD 相机能够实现对1 064 nm、1 550 nm 等短波红外激光的探测和成像。采用红外转换荧光屏制作红外CCD 相机为短波红外探测器的研制提供了简便、有效的途径。     

基于P31荧光粉的像增强器余辉测量方法研究

荧光屏余辉在高帧频速光子计数等系统应用中起着决定性作用。GJB 7351-2011《超二代像增强器通用规范》荧光屏余辉试验方法中规定光脉冲作为激励源,该方法中光脉冲激励源停止后光源照度下降缓慢,造成在短余辉粉（μs级）和中余辉粉（ms级）的余辉时间测量中测试结果不准。针对该问题,提出了一种在光照持续工作状态下,用光电阴极电压脉冲信号作为激励源的荧光屏余辉测试方法,该方法中光电阴极超快响应时间（一般为1 ns左右）和脉冲电压信号的较短边沿时间（一般可控制在10 ns以内）特性改善了激励源自身时间响应对荧光屏余辉测试结果准确性带来的影响。基于该方法建立了一套微光像增强器荧光屏余晖测量装置,对P31荧光粉的国产三代微光像增强器余辉进行了重复性测量,对测量不确定度进行了误差分析,其扩展不确定度为3.2%,达到了传统光电测试仪器的准确度要求,可满足微光像增强管荧光屏余辉测量的要求。该研究成果为更高性能产品提供了一种检测手段。