信号电平偏低与网纹干扰故障的分析与维修

1 全频段信号电平偏低 引起电平偏低的原因较多，主要有温度变化、放大器工作异常、电缆老化等几种。 （1）温度变化导致电平下降 温度变化导致电平下降有两方面的原因，其一是温度降低使电缆芯线热胀冷缩而接触不良引起电平降低，出现这种情况时低频段的电平比高频段的电平下降快，此故障多发生于冬季，出现这种故障必须重做接头，并紧固接口器件；其二是温度升高使电平下降，根据电缆的温度特性，随着环境温度的升高损耗随之增大，     

CT_1型瓷介电容器全国质量分等试验耐久性试验浅析

通过对全国集中分等试验的情况总结,分析了目前CT_1型瓷介电容器的失效模式和质量状况,提出了几点改进措施。     

泡沫硅橡胶老化后的压缩性能

硅橡胶在贮存和使用过程中，常受到不同应力应变的作用，在其使用和贮存期间会产生一系列物理老化和松弛，导致其内部结构发生变化，从而引起各种性能尤其是力学性能的下降，当性能下降到一定程度时，吉卜赛材料允许使用极限，它就失去了使用价值，因此有必要对硅橡胶的库存和老化进行研究。     

提高超小型铝电解电容器生产一次合格率

恰当选择原材料、确保铆接工序质量、重视工作电解液的配比、严控各工序成品率是提高超小型铝电解电容器投入产出一次合格率的关键。以１０Ｖ－４７μＦ（４ｍｍ×７ｍｍ）产品为例，投入产出一次合格率达９４％以上。     

大功率高频开关电源高温老化设备的设计

介绍了DUM系列高频开关电源高温老化设备的设计思想,以及在工程实施过程中应把握的几点要求。     

PZT铁电薄膜的制备及电学性能研究

使用硝酸锆作锆源的溶胶－凝胶方法制备ＰＺＴ铁电薄膜。他们的电学性能被测试包括电滞回线，电流Ｉ（ｔ）特性，漏电流，矫顽场疲劳和老化。测到的ＰＺＴ薄膜剩余极化８．２μＣ／ｃｍ~２，矫顽场６８ｋＶ／ｃｍ．簿膜的寿命可超过１０~（１１）周期。     

KGD芯片综述

随着ＭＣＭ技术的应用和发展，人人对ＭＣＭ的成本和可靠性越来越重视，首先强烈产生获得ＫＧＤ芯片的欲望。近年来，国际上欣起探索获得ＫＧＤ途径的热潮，并取得了较大进展。一些有名的大公司各有特色地运用自己的优势，得到了ＫＧＤ，做出了ＭＣＭ组件。本文论述了ＫＧＤ现状，获得ＫＧＤ的途径，并结合我国情况提出了建议和方法。     

解决由干带飞弧引起的高压ADSS光缆老化问题的工程方法

介绍了一种解决光缆上由干带飞弧引起的诸多问题的新颖方法，还叙述了设计一个工作系统所需的应用工程技术。     

品牌激活:创新还是怀旧?

品牌老化是品牌长期管理方面一个不容忽视的问题,而品牌激活是解决这一问题,增加品牌资产价值的基本途径。本文从″创新″还是″怀旧″两个相悖的视角来探讨中华老字号品牌的激活途径,并以维他奶的案例进行了深度剖析,进而得出品牌激活的相应对策。