散斑条纹的快速高精度处理技术

本文提出一种快速高精度散斑杨氏条纹(斑纹)场处理方法——同态阀值滤波法。用它实现了散斑场条纹的快速、逐点连续高精度处理。     

自适应指纹预处理算法

基于大量的实验提出了一套行之有效的指纹处理算法，主要包括使用基于方向图的自适应旋转滤波器、与自适应增强滤波同时进行的自适应阀值边缘处理、自适应阀值二值化，很好地增强了指纹图像的清晰度，同时起到了很好的滤波作用，为可靠、准确地实现指纹自动识别系统奠定了最可靠的基础．     

使用智能模板系统降低SMT来料制造的偏差

当一种产品的制造转移发展到一个新的阶段时，就会出现SMT产量下降的趋势，这是很正常的事，不论是从研制中心转移到生产现场，还是从一个生产现场转移到另一个生产现场。对于CEM和OEM来说，解决产量浮动的问题常常需要投入更多的资金于资源中。为限制浮动，很多制造厂家已转移到使用标准化的工艺技术：类似的设备、类似的生产线配置和类似的化学产品。这种实用的标准化方法通过提高产品的传输效率使许多组装厂家节省了亿万美元。在SMT制造中存在着偏差的其中一个原因，最近才得到解决，其偏差的根源就是焊料模板。人们一般都认为在SMT组装生产线上产生的缺陷有75％是由于模板印刷而造成的。尽管在印刷工艺的标准化方面下了很大功夫，但是模板自身将承受两个途径的变化带来的影响：那就是设计和制造。通常，在制造现场大都采用本地的首选方法来修改模板的设计。模板的制造工艺也是有偏差的，因为不同的模板生产厂家生产出来的模板存在着差别，其差别取决于其使用的设备年限、条件或制造厂家。为了解决模板偏差的这两种根源而研制出一种系统，其可在全球范围内应用，这种系统通过提供某些方法来控制设计变化和制造的偏差。智能数据库系统管理设计信息，同时正规的统计过程能力的研究帮助校正和控制制造工艺。本文评论了信息管理过程，并讨论了其提供的可选用的方案和防护措施。此外，还讨论了用于保证生产的每个模板的类似业位和尺寸精度的统计方法，而不需考虑制造现场条件。     

Semico预测今年下半年和明年半导体市场将温和浮动

市场研究公司Semico发布的曲线指数（IPI）显示，今年和明年的半导体市场不会迎来快速增长。IPI是Semico用来预测未来8到9个月市场变化的工具．其5月份值为15．4．较4月份的14．9有所上升，IPI值在今年1月和2月有所上升．而3月和4月则连续迎来下降。Semico在7月27日发表的一份研究报告中称IPI值的变化反映出目前有多种因素有利于保持市场平衡，并导致半导体市场处于温和变动的态势。     

浮动电极对屏蔽栅沟槽型MOSFET特性的影响

提出了在屏蔽栅沟槽型MOSFET(SGT)的沟槽侧壁氧化层中形成浮动电极的结构,通过改善电场分布,优化了特征导通电阻与特征栅漏电容。在传统SGT结构的基础上,仅通过增大外延层掺杂浓度,改变浮动电极的长度和位置以及氧化层厚度,最终得到击穿电压为141.1 V、特征导通电阻为55 mΩ·mm²、特征栅漏电容为4.72 pF·mm^-2的浮动电极结构。与相同结构参数的SGT结构相比,在击穿电压不变的条件下,浮动电极结构的特征导通电阻降低了9.3%,Baliga优值提升了13%,特征栅漏电容降低了28.4%。     

环多肽晶体的浮动电荷极化力场模拟

利用原子键电负性均衡结合分子力场方法(ABEEM/MM)对五种环多肽晶体进行了研究. 与传统力场相比, 该方法中的静电势包含了分子内和分子间的静电极化作用, 以及分子内电荷转移影响, 同时加入了化学键等非原子中心电荷位点, 合理地体现了分子中的电荷分布. 相对其他极化力场模型, 具有计算量较小的特点. 该模型下计算得到的环多肽分子单元相对实验测得的结构的原子位置、氢键长度和二面角的均方根偏差分别为0.009 nm、0.013 nm和5.16°, 能够很好地重复实验结果. 总体上, 其结果优于或相当于其他力场模型, 适用于对实际蛋白质体系的模拟和研究.     

电流阀值对断续骚扰检测结果的影响

对于某些由开关操作数得出喀呖声率的被测设备,目前大部分检测实验室的断续骚扰分析仪可能会漏计算一些开关操作。解释了标准中"开关操作"的定义,通过实际案例阐述了使用分析仪进行断续骚扰项目检测时,预置电流阀值的选择对检测结果的影响。     

不同粒径炭黑混合对复合型导电材料PTC性能的影响

研究了炭黑分散效果对具有PTC效应的高密度聚乙烯／炭黑导电复合材料性能的影响。实验结果表明，由不同粒度和比表面积的两种炭黑混合后填充的复合材料同由导电性能较好的乙炔炭黑填充复合材料比较，前者具有较低的渗滤阀值、较高的临界温度、优良的PTC特性以及电阻稳定性好的特点．     

一种水下爆炸冲击波压力调控方法

起爆位置和装药形状对水下爆炸冲击波压力有较为显著的影响,这使得利用小当量装药在局部方向形成与大当量装药一定程度等效的冲击波成为可能。为了能够在小当量装药条件下开展舰船结构及设备抗水下爆炸冲击实验,基于细长装药结构和参数优化设计,设计了一种冲击波压力幅值和持续时间可调的装药方法。首先,基于简单波理论给出了水下爆炸冲击波压力调控的原理,以及装药参数优化设计的目标函数和约束条件;然后,采用自主数值模拟软件研究了细长装药的水下爆炸能量输出规律,通过实验验证了数值模拟的置信度,研究发现起爆位置和装药形状对水下爆炸冲击波压力峰值和持续时间的影响是显著的,在炸药爆速一定的情况下,长药柱水下爆炸冲击波压力的持续时间可通过几何近似确定;最后,为了进一步考察该方法的有效性,以1 000 kg TNT和100 m爆距的水下爆炸冲击波压力-时间曲线作为原型,设计了2种与该原型冲击波压力等效的装药方案,并通过数值模拟进行了验证。研究结果表明:设计的装药能够在预定的持续时间内,在装药起爆端一侧形成与原型等效的冲击波压力-时间曲线。由于没有考虑对气泡载荷的等效,因此该调控方法仅适用于中远场爆炸冲击问题。