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F接头按传统方法制作,要在电缆线端头切一条口,这样不仅使得密封防雨性能差,而且破坏了电缆线的屏蔽性能,因此存在以下缺陷:①电视射频信号通过切口向外辐射,耦合在其他电缆传输干线上,产生重影干扰;②外界噪声通过切口侵入网络中,干扰有用信号;③电缆线容易进水,造成接触不良、短路、打火拉弧等故障;④F接头套筒的形状为圆锥体,头大尾小.在压环压力作用下,F接头产生向外动的趋势,受温度变化和外部拉力作用,F接头容易与铝带松动、脱离,因此我们对F-9和F-12接头的机械构造加以改进。 相似文献
5.
《电子产品可靠性与环境试验》2004,(1):45
从2003年6月1日起,GB 4706.30-2002(厨房机械的特殊要求)新版标准开始实施。 从2003年8月1日起,下述4个标准也开始实施新版内容: GB 4706.21-2002(微波炉的特殊要求); GB 4706.22-2002(驻立式电灶、灶台、烤炉及类似用途器具的特殊要求); 相似文献
6.
CMP系统技术与市场 总被引:3,自引:1,他引:2
葛劢冲 《电子工业专用设备》2003,32(1):17-24
概述了CMP系统技术的发展历史、发展趋势以及在IC生产中的重要性,介绍了国外CMP设备主要制造厂家的设备型号和性能及CMP设备市场分布和需求,阐述了CMP系统技术的基础研究、关键技术和国内研究概况。 相似文献
7.
摩擦强度对薄膜表面形态的作用:原子力显微镜下的观察 总被引:2,自引:2,他引:0
展示了摩擦强度对聚酰亚胺薄膜表面形态的影响,原子力显微图像显示,机械摩擦会使聚酰亚胺薄膜表面上形成微沟槽,这些沟槽的表面具有丰富的表面精细构造。原子显微图像还揭示了机械摩擦可以改变被磨擦聚酰亚胺膜的表面形态。 相似文献
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9.
利用机械合金化制备纳米Zr-V粉末,对制备过程的材料进行物相分析和热分析试验。初始粉末Zr(150μm)和V(150μm)元素粉末(纯度99.15%)按原子比1:2或1:1进行混合后在氩气气氛中放入SimoloyerCMol—2球磨仓中,按几种不同的试验条件进行球磨。同时在997K和1047K下热处理40min和1h,并对热处理前后的粉末进行了物相和TG-DSC实验分析。 相似文献
10.
在过去两年里,用于消除IC、电路板和系统之间数据传输瓶颈的接口标准层出不穷,本文将就通信应用标准部件的某些最流行的标准进行分析,并研究众多新标准出现的原因,此外还探讨设计者如何解决互用性的难题。 相似文献