全文获取类型
收费全文 | 9317篇 |
免费 | 1327篇 |
国内免费 | 421篇 |
专业分类
化学 | 14篇 |
晶体学 | 13篇 |
力学 | 33篇 |
综合类 | 47篇 |
数学 | 40篇 |
物理学 | 1381篇 |
无线电 | 9537篇 |
出版年
2024年 | 45篇 |
2023年 | 170篇 |
2022年 | 207篇 |
2021年 | 218篇 |
2020年 | 121篇 |
2019年 | 192篇 |
2018年 | 109篇 |
2017年 | 183篇 |
2016年 | 202篇 |
2015年 | 256篇 |
2014年 | 505篇 |
2013年 | 421篇 |
2012年 | 574篇 |
2011年 | 627篇 |
2010年 | 579篇 |
2009年 | 734篇 |
2008年 | 773篇 |
2007年 | 597篇 |
2006年 | 546篇 |
2005年 | 639篇 |
2004年 | 661篇 |
2003年 | 602篇 |
2002年 | 424篇 |
2001年 | 320篇 |
2000年 | 199篇 |
1999年 | 194篇 |
1998年 | 143篇 |
1997年 | 166篇 |
1996年 | 152篇 |
1995年 | 116篇 |
1994年 | 75篇 |
1993年 | 61篇 |
1992年 | 69篇 |
1991年 | 59篇 |
1990年 | 41篇 |
1989年 | 68篇 |
1988年 | 7篇 |
1987年 | 2篇 |
1986年 | 1篇 |
1985年 | 2篇 |
1984年 | 2篇 |
1982年 | 1篇 |
1980年 | 2篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 234 毫秒
1.
空口(OTA)测试已广泛应用在无线通信领域,提高测试结果的准确性是OTA测试当前急需解决的问题.文章从影响OTA测试结果准确性的因素链路增益平坦度入手,使用衰减器对测试链路进行增益削剪,分析测试了不同链路增益平坦度对被测件的EVM(误差矢量幅度)、BER(误码率)、TIS(总全向灵敏度)三项性能指标的测试误差与测试不确定度的影响.测试结果表明,增大链路增益平坦度会导致EVM、BER参数发生偏移,降低测试系统的通信质量;当系统的链路增益平坦度为1.82 dB时,测试误差与不确定度接近CTIA测试标准中规定值.最后,提出一种使用增益均衡器降低链路增益平坦度的方法,在链路增益平坦度为3.25 dB的测试系统中可将其控制在0.5dB以内. 相似文献
3.
4.
6.
7.
什么是OTP?——这样的产品只允许写入一次,所以被称为“一次可编程只读存储器”(One Time Progarmming ROM,OTP-ROM)。 相似文献
8.
用CPLD实现SRAM工艺FPGA的安全应用 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种利用CPLD产生的伪随机码来加密SRAM工艺FPGA的方法,并详细介绍了具体的电路和VHDL代码。 相似文献
9.
10.
二维离散小波变换的FPGA实现 总被引:1,自引:0,他引:1
提出了一种二维离散小波变换的FPGA实现方法.并对设计结果进行了功能和时序仿真。本设计方案不仅可以满足实时性的要求,而且采用模块化设计,可以实现多级小波变换。 相似文献