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1.
2.
基于放大器非线性拟合的自适应预失真技术   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文提出了一种新的有效的大功率放大器非线性失真的数字自适应预失真设计方法。该方法基于有理双线函数的非线性及其逆变换易于求解的特性,设计大功率放大器的估计器以逼近大功率放大器的非线性特性,预失真器的非线性参数由估计器的逼近函数逐段取逆变换来调节,以达到预失真补偿的目的。计算机仿真结果表明:该方法用于正交频分复用(OFDM)系统中具有收敛速度快、系统性能稳定、补偿效果好等特点。  相似文献   
3.
齐锋  刘文清  张玉钧  魏庆农  王锋平 《光子学报》2003,32(10):1234-1238
差分吸收光谱技术(DOAS)中采用线性最小二乘拟合方法,用痕量气体标准差分吸收截面对测量得到的差分吸收光谱进行拟合,得出大气中痕量气体的浓度.计算结果的准确性不仅取决于光谱的测量精度,而且受标准差分吸收截面以及仪器函数和温度等诸多因素的影响.详细地分析了计算误差的产生原因,提出了用高浓度样品池得到标准吸收截面的方法,针对光谱固有结构,以及温度对标准吸收截面的影响,改进了浓度反演算法.大量的实验表明,综合运用上述方法,即便对低浓度的样气,相对测量误差也能降低到10%以下.  相似文献   
4.
“任意反射面的速度干涉仪”VISAR(Velocity Interferometer System for Any Reflector)技术,已成为诊断冲击作用下样品自由面速度剖面或粒子速度剖面的主要技术。其主要优点在于能够对高速度、高加速度运动事件进行非接触的连续测试。  相似文献   
5.
光纤荧光传感器衰减寿命的加权对数拟合法   总被引:2,自引:0,他引:2  
荧光寿命的检测是荧光光学传感器的核心内容,国际上尝试了多种方法来拟合这种理论上为单指数衰减信号的荧光衰减曲线。这些方法包括非线性函数标准拟合方法。即Levenburg-Marquardt方法,以及Prony方法、FFT方法,对数拟合法等等。为了克服在实际应用中发生的信号退化,需要在测量信号衰减寿命的同时测量信号的初始强度。文章介绍了一种加权的对数拟合法,经计算机仿真及实际数据测试均可以得到和Levenburg-Marquardt方法非常接近的结果,且拟合时间大大缩短,测量稳定性大大提高。仿真测试及具体实验测试结果显示了这种方法的有效性。该方法不仅与Levenburg-Marquardt方法的偏差曲线非常相似,而且实验测得的荧光寿命与Levenburg-Marquardt方法偏差在0.2%以内。  相似文献   
6.
基于图像处理技术的束流剖面监视系统   总被引:3,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
 介绍了在兰州重离子加速器上利用荧光靶图像获取装置测量并计算束流剖面参数的方法,并建立了图像获取、处理、束流参数计算的实时测量软件系统。该系统具有可靠性好、测量直观、界面友好等优点。  相似文献   
7.
Tokamak中自举电流的剖面准直性   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
龚学余  石秉仁  张锦华  邱小平  凌球 《物理学报》2002,51(11):2547-2555
利用Harris模型,通过求解等离子体平衡方程,计算俘获粒子份额,分别对常规剪切和中心负剪切下tokamak中的自举电流的大小和剖面准直性进行了计算和分析.自举电流分布与等离子体平衡电流分布之间的剖面准直性可以通过调整等离子体的密度、温度和电流分布参数,以及描述等离子体形状的拉长度k和三角变形因子d来获得.中心负剪切位形有利于自举电流产生,并有好的剖面准直性.通过计算比较,分别在常规剪切位形下和中心负剪切位形下获得了一组优化的等离子体参数,在这组参数下,自举电流有较大的份额和好的剖面准直性 关键词: tokamak 自举电流 剖面准直性  相似文献   
8.
张申如 《通信学报》1989,10(3):71-73
本文扩充了G. Trommer的结果,提出了单模光纤在芯径,相对折射率差偏离标准设计值时色散系数谱的简化计算方法。  相似文献   
9.
线阵CCD在双棱镜测光波波长中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
CCD是一种以电荷量表示光量的大小,用耦合方式传输电荷量的新型光电传感器件,其基本部分由MOS光敏元列阵和读出移位寄存器组成.具有体积小、重量轻、功耗低、光谱响应范围宽、分辨率高、精度高、稳定性能良好等一系列优点,与计算机配合使用,使得由CCD采集到的大量数据的处理变得非常容易.对测量数据的处理可以经过存储、自动补偿和校正,最后打印输出,现今已在航天、遥感、军事设备、自动控制、雷达、医学、生物、化学、颜色测量等方面得到了广泛的应用[1].我们将其用在实验教学中,取得了很好的效果.  相似文献   
10.
通过对直线拟合中截距的分析发现系统误差.  相似文献   
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