Photo-detachment cross section of H- near two parallel interfaces

The photo-detachment cross section of H^- near two parallel elastic interfaces is derived and calculated by using the closed orbit theory. The photo-detachment cross section of H^- near two interfaces is shown to exhibit multi-periodic oscillations when the distance between the H^- and the interface is varied. Each peak in the Fourier transformed photo-detachment cross section corresponds to the length of a closed orbit, which is quite similar to the case of atomic spontaneous emissions in a dielectric slab. This study provides a new understanding of the photo=detachment process of H^- in the presence of interfaces.     

GaAs电介质表面对剥离电子通量分布影响的数值研究

利用半经典开轨道理论,研究了GaAs电介质表面对氢负离子在磁场中的光剥离干涉图样的作用,推导并计算了本体系下的光剥离电子流通量,主要研究GaAs电介质表面到离子的距离不同对电子通量的影响。结果表明,电介质表面到离子的距离可以改变电子通量分布中的振荡结构,影响探测平面上形成的干涉图样的分布。因此,可以通过改变电介质表面到离子的距离来调控剥离电子的通量和干涉图样分布。     

甚高频激发的容性耦合Ar+O_2等离子体电负特性研究

利用探针辅助的脉冲激光诱导负离子剥离诊断技术对掺入5%O_2的容性耦合Ar等离子体电负特性进行了诊断研究.首先详细解析了脉冲激光剥离后探针的电信号,分析了探针偏压在低于或高于空间电位下的探针收集信号特征;根据探针偏压与探针收集信号之间的依赖关系,用来描述Ar+O_2等离子体电负特性的等离子体电负度被定义为脉冲激光剥离出的电子电流与偏压高于空间电位的探针收集到的背景电子电流的饱和比值,并对等离子体电负度随放电气压、射频功率以及轴向位置的变化进行了诊断测量.实验结果表明等离子体的电负度随着射频功率的增加而减小、随着放电气压的上升而变大;由于非对称电极的分布特性,在轴向方向上靠近功率电极时等离子体电负度有升高的趋势,这种趋势可能与鞘层边界附近二次电子的动力学行为以及负离子的产生与消失过程有关.