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含ZnO样本集晶格匹配和热匹配的模式识别分析   总被引:2,自引:1,他引:1  
利用动态聚类分析、最小生成树、主成分分析等模式识别方法,对含ZnO半导体材料的样本集中各样本之间在300K时的晶格匹配与热匹配程度进行了分析。结果表明:在300K时,三种Ⅲ-Ⅴ族氮化物AlN、GaN、InN与ZnO材料之间的晶格匹配和热匹配程序最好。由最小生成树以及主成分二维映射结果可知两类样本分区明显,分类效果良好,表明利用模式识别方法可对含ZnO样本集中各样本之间的晶格匹配和热匹配程度进行识别  相似文献   
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