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1.
采用大功率半导体激光器端面泵浦Nd∶LuVO4晶体,利用Cr4+∶YAG晶体作为可饱和吸收元件,实现了1.06 μm激光的被动调Q运转.在泵浦功率为19.1 W时,获得最高平均输出功率为4.58 W,脉冲宽度为84 ns,单脉冲能量为36.6 μJ以及峰值功率为436.2 W的激光脉冲.  相似文献   
2.
A three-dimensional molecular dynamics (MD) model is utilized to investigate the effect of tool geometry on the deformation process of the workpiece and the nature of deformation process at the atomic-scale. Results show that different states exist between the atomic force microscope (AFM) pin tool and the workpiece surface, i.e. the non-wear state, the ploughing state, the state in which ploughing is dominant and the state in which cutting plays a key role. A relationship between the deformation process of the workpiece and the potential energy variation is presented. The potential energy variation of atoms in different deformed regions in the workpiece such as plastically deformed region, elastically deformed region and the mixed deformation region is different. The features of variations of potential energy are discussed.  相似文献   
3.
均苯三甲酸铕及铕镧配合物的合成及荧光性质   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
以均苯三甲酸为配体,水热条件下合成了均苯三甲酸铕及铕镧系列发光配合物LaxEu1-x(BTC)·nH2O(x=0,0.1,0.3,0.5,0.7,0.9),通过元素分析及化学滴定法测定了配合物的组成。用红外光谱对其进行了表征,确定了该系列配合物的组成为LaxEu1-x(BTC)·nH2O。研究了系列配合物的荧光性质,荧光光谱表明:该类配合物均能发出强的铕离子的特征荧光,并且镧元素的掺入能增强铕配合物的发光强度,但发射峰的位置基本上没有变化;其中5D07F15D07F2的跃迁发射较强,且均劈裂为两个峰(587,593nm)和(611,618nm),这是由于铕离子所处的配位环境引起的。  相似文献   
4.
The results of laser induced deposition of copper on polyimide substrate from copper electrolyte solution are reported. Unlike most work reported in the literatures where CW Ar+ lasers were used, a second harmonic (532 nm wavelength) Q-switch Nd:YAG laser was used for our experiments. The deposition process was conducted by laser-catalyzing of the polyimide surface and subsequent photothermal-accelerated reduction of copper-complex ions in an alkaline reducing environment. The characteristics of the deposited copper line were investigated in terms of laser beam scanning speed, and the number of scans. The surface morphology and chemical composition of the deposited copper were analyzed using field emission scanning electron microscope (FESEM) and energy dispersive spectrometer (EDX). The optimum processing conditions have been identified. The copper deposit was found to adhere well to the substrate.  相似文献   
5.
研究了制备的掺钕螯合物Nd(DBM)3Phen材料的吸收光谱、激发光谱、荧光光谱,应用Judd-Ofelt理论计算了该材料的强度参量.分析了钕离子激发态4F3/2的辐射寿命(631 μs)和4F3/2→4IJ′跃迁的受激发射截面和荧光分支比.  相似文献   
6.
连续激光诱导Zn/InP掺杂过程中温度分布的解析计算   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
田洪涛  陈朝 《物理学报》2003,52(2):367-371
在实验的基础上,分析表面蒸发Zn的InP样品在连续激光诱导下掺杂Zn过程.在一维热传导问题的第三类边界条件下,给出激光辐照有限厚双层材料Zn/InP温度分布的一种直观简洁的解析形式. 关键词: 激光诱导掺杂 Zn/InP 温度分布  相似文献   
7.
Ternary derivatives of 1T-TaS2 have been synthesized and the variation in the highly structured diffuse intensity distributions characteristic of such materials carefully monitored to investigate the effect that such substitution has upon the band structures and Fermi surfaces (FSs) of the materials. Removal of d electrons via the replacement of Ta ions with lower valent transition metal ions leads to a systematic increase in the radii of the characteristic structured diffuse intensity distribution. Extended Hückel tight binding calculations of the FSs of the doped samples are carried out and used to predict possible nesting wave-vectors. The results are in reasonably good agreement with the radii of the experimentally observed diffuse intensity distributions.  相似文献   
8.
 介绍了一台10mm口径两级双程离轴放大系统,实现了对5mm×5mm口径光束的激光放大,耦合系统采用高功率LDA紧密侧面直接抽运棒状Nd:YLF方式。分析并实验研究了在不同抽运电流、放大脉冲与放大器LDA抽运时刻的不同延时及不同注入能量条件下,放大系统及光束每次放大时放大特性的规律。实验得到:在放大系统5mm×5mm软光阑处注入1.58mJ能量时,放大系统可输出129.2mJ能量,能量提取效率达到19.5%,满足该系统的设计指标。  相似文献   
9.
利用电弧熔炼制备了 (Nd1 xErx) 2 Co1 5 5V1 5(x=0— 1 0 )化合物样品 .通过x射线衍射分析和磁性测量研究了Er替代Nd2 Co1 5 5V1 5中的Nd时对化合物结构和磁性的影响 .研究结果表明 ,低Er含量 (x <0 4 ) ,化合物为Th2 Zn1 7型结构 ;高Er含量时 (x >0 5 ) ,化合物转变为Th2 Ni1 7结构 ;Er含量为x =0 4和 0 5时 ,两种结构共存 .两种结构的晶胞参数a ,c和晶胞体积V随着Er含量的增加都呈现递减的趋势 .随着Er含量的增加 ,(Nd1 xErx) 2 Co1 5 5V1 5化合物的居里温度和饱和磁化强度都单调下降 .(Nd1 xErx) 2 Co1 5 5V1 5化合物的室温各向异性由低Er含量时的易锥型转变为高Er含量时的易轴型 .x =0— 0 5的化合物在温度升高时发生自旋重取向转变 ,自旋重取向温度Tsr随Er含量的增加而减小  相似文献   
10.
 Phenomena accompanying electrochemical doping of solid fullerene films with potassium were studied by sputter ion depth profiling (XPS and SIMS). The potassium distribution was determined, and artifacts associated with possible damage of the layer composition caused by ion impact were investigated and discussed. To compare the charge transfer while reductive doping is taking place at fullerene/solution interface with doping from gas phase, model layers were prepared and doped by potassium under UHV conditions. It was found that sputtering by Ar+ primary ions yields both accurate information on the alkaline metal distribution and on its concentration. Sputtering by O+ ions led to an enrichment of potassium, apparently due to the reactivity of oxygen with the fullerene matrix. It is shown that the reductive doping starts at the fullerene/solution interface. The concentration of potassium in the doped films was found to be lower than expected from the charge transferred during the electrochemical reduction. Other phase transformations such as hydrogenation are discussed. Received March 4, 2002; accepted July 26, 2002  相似文献   
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