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1.
一个稳定的补偿器可同时镇定n个对象(同时强镇定)等价于一个补偿器(不一定稳定)同时镇定n 1个对象(同时镇定).两个以上对象的同时强镇定和三个以上对象的伺时镇定是线性系统中一个急待解决的公开问题.文中所作的基本假定是所有的对象具有相同的简单不稳定零点,在此条件下给出了n个对象同时强镇定的一个充分条件.当仅有一个不稳定零点时.容易检验是否同时强镇定,否则仅需确定n个对象的不稳定零点并且判定由不稳定零点导出一个相应矩阵是正定的,就能判定n个对象同时强镇定.因此是一个易于检验的充分条件.文章同时给出了n个对象同时强镇定的算法,丰富了同时强镇定的充分条件.  相似文献   
2.
1用λ/4波片和检偏器鉴定椭圆偏振光存在的缺点 鉴定椭圆偏振光常用的方法是先用检偏器鉴定椭圆偏振光长短轴的方位,再用λ/4波片使之转化成线偏振光,然后用检偏器找到消光位置.  相似文献   
3.
自抗扰控制技术在捷联惯导动基座初始对准中的应用研究   总被引:1,自引:1,他引:1  
提出并设计了应用自抗扰控制技术(ADRC)的捷联惯性系统动基座初始对准方案。通过数字仿真,将卡尔曼滤波与自抗扰控制的性能进行了详细的比较,证明该方法具有对准时间快,精度高,抗干扰能力强等特点。  相似文献   
4.
5.
常军  张正慧  王蕊瑞 《物理学报》2011,60(3):34218-034218
使用新型的特殊整流罩窗口可以明显地提升飞行器的空气动力学性能,但由于这种共形窗口光学表面的复杂性,传统的非球面检测技术已经较难满足要求.本文提出了一种新型子孔径拼接检测技术,在建立新的检测原理基础上,还重点介绍了这种检测方法的设计.同时基于补偿法的原理,文中还针对一个口径70 mm的共形窗口,设计了相应的特殊补偿器,其最终剩余波像差(RMS)为0.0515λ(λ=632.8 nm),可以满足实际使用要求. 关键词: 共形窗口 共形检测 子孔径拼接检测 补偿器  相似文献   
6.
密集波分复用薄膜滤光片的群延迟补偿设计   总被引:1,自引:1,他引:0  
陆巍  顾培夫  刘旭 《光学学报》2003,23(9):123-1126
设计了一种基于薄膜干涉理论的反射式相位补偿器件,用以补偿密集型波分复用窄带滤光片所产生的群延迟,使50GHz薄膜滤光片的群延迟特性适应于40Gb/s系统的要求,在0.2nm带宽下群延迟波动从10ps左右下降到0.76ps以下。  相似文献   
7.
单自由度磁浮陀螺寻北仪的控制及分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
提出了一种结构简单的新型磁悬浮寻北仪,建立了电磁轴承约束的单自由度陀螺罗盘的数学模型,讨论了陀螺框架轴在弹性约束下偏离铅垂方向对寻北精度及定向时间的影响。采用动态补偿器使磁浮轴承系统稳定工作,并通过适当选取控制策略,有效地降低了由于框架轴运动而造成的寻北误差,并解决了可能出现的转子轴轨迹发散的问题。仿真结果表明,该磁悬浮寻北仪具有明显优于现有寻北仪的性能,当寻北时间为40 s时,定向误差小于2.3081×10?11 rad。  相似文献   
8.
为了标定利用补偿器检测非球面的精度,提出采用倾斜计算全息法(CGH)校验补偿器,并将补偿器精度提高。介绍补偿器检测离轴非球面基本原理,同时结合工程实例,设计补偿器检测860 mm×600 mm的离轴高次非球面,通过加工与装配,仿真分析出装配后的补偿器精度为2.91 nm[均方根(RMS)值]。设计了利用倾斜式的计算全息板检测该补偿器的实验,并分析出利用该CGH校验补偿器的精度为1.79 nm(RMS值)。结果表明,受限于补偿器光学元件加工和组装精度,其检测精度未知,通过对补偿器误差进行检测与标定,可以确定利用该补偿器检测非球面的可行性并将其精度提高。  相似文献   
9.
计算机产生全息图对补偿器检测的技术研究   总被引:3,自引:2,他引:1  
用一种计算全息板代替补偿器零检验光路中理想的大型非球面,实现对补偿器的定量检验.用于检测补偿器旋转对称的二元反射式全息板根据非球面方程设计,并确定其光程差,再由激光直写(精度可达0.6μm)来制作完成,合成相当于理想非球面反射波前.其检测精度小于λ/10.补偿器的参量由抛物面和三级球差理论确定.  相似文献   
10.
In this paper we propose theoretically a set of ellipsometric configurations using a rotating polarizer, compensator, and analyzer at a speed ratio of N1ω:N2ω:N3ω. Different ellipsometric configurations can be obtained by giving different integral values to N1, N2, and N3. All configurations are applied to bulk c-Si and GaAs to calculate the real and imaginary parts of the refractive index of the samples. The accuracies of all ellipsometric configurations are investigated in the presence of a hypothetical noise and with small misalignments of the optical elements. Moreover, the uncertainties in the ellipsometric parameters as functions of the uncertainties of the Fourier coefficients are studied. The comparison among different configurations reveals that the rotating compensator–analyzer configuration corresponds to the minimum error in the calculated optical parameters.  相似文献   
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