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1.
当我们在阳光下洗衣服时,盆里的肥皂或洗衣粉泡上会出现各种彩色花纹,并且随泡的大小变化,花纹的形状和颜色也不断的变化;炎热的夏天,雨过天晴,柏油路的积水面上浮着一层油膜会呈现出五颜六色;用手把两片无色透明的玻璃片捏在一起,阳光下也能看到彩色花纹.以上现象的产生,是因为光产生了薄膜干涉现象。  相似文献   
2.
玻璃熔片制样-XRF测定流纹岩中的24种主、次量元素   总被引:1,自引:0,他引:1  
采集了雁荡山中折瀑白垩纪古火山口的流纹岩样品,通过二次玻璃熔片法制样,选择多种日本岩石标准物质作为标准样品制作校准曲线,优化建立了X射线荧光光谱法测定流纹岩中SiO2、TiO2、Al2O3、Fe2O3、MnO、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5、Th、Pb、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Zn、Cu、Ni、Co、Cr和V等24种主、次量元素含量的方法.该方法具有环境友好、操作简便、成本低廉等突出优点,并且测定结果的准确度亦令人十分满意.  相似文献   
3.
《光谱实验室》2007,24(1):50-50
伊斯特曼出身贫穷,没有机会上学,14岁就自食其力。1877年,开始对照相术产生了兴趣。那年代,照相底片是玻璃片,在摄影之前在其上涂以化学乳剂。乳剂不能久放,必须在摄影时涂上。然而,玻璃片毕竟太重、太不方便。1888年,他开始出售把明胶涂于纸上的柯达照相机(柯达是伊斯特曼创造的,无含义,仅是一个商标而已)。  相似文献   
4.
笔者拜读了文献[1]很受启发.文中所用的器材之一——农用喷雾器的喷杆和喷片,在农村较常见,但在城市中难找;有什么器材可以替代呢?为此,笔者仔细研究了2521型学生双缝干涉实验仪的单缝、双缝镜头,发现它们是采用真空镀铬工艺镀铬在玻璃片上.镀铬的部分像镜子一样反光,不能透光;不镀铬的部分(即单缝、双缝所在位置)则透光.那么,我们可不可以用日常生活中常用的平面镜来制作单缝和双缝呢?经笔者实际动手验证,答案是肯定的.  相似文献   
5.
采用熔融玻璃片制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus Ⅱ X射线荧光光谱仪对黏土样品中的Al2O3、SiO2、Fe2O3、CaO、MgO、K2O、Na2O、MnO、P2O5、TiO2、Cu、Cr等组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相吻合,12次测定的相对标准偏差小于10%.  相似文献   
6.
将四硼酸锂内衬坩埚熔融制样方法应用于X射线荧光光谱法测定工业硅中总硅、二氧化硅和其他杂质组分(铝、铁、钙、镁、钛)。在熔融制样前,样品(1.000 0g)经直接灼烧(700~750℃)计算灼减量并除去样品中碳。称取上述灼烧后的样品0.200 0g,与碳酸锂1.700g和600g·L~(-1)硝酸铵溶液0.1~0.3mL混匀后移入四硼酸锂内衬坩埚中,于710~720℃预氧化10~12min。将此经预氧化的混合物及其内衬坩埚一起转移至预置有3.000g硼酸的铂金坩埚中,加入400g·L~(-1)溴化铵溶液0.1~0.4mL,于熔样机中静置熔融8min,摇动熔融12min,冷却,脱模后即得样品的玻璃片。选取测定元素的氧化物,按0.200 0g称样量模拟制备了5个校准样片,各组分的质量分数在一定范围内与其对应的X射线荧光强度呈线性关系,提出了样品中二氧化硅含量的计算公式。方法用于5个工业硅样品的分析,测定结果与湿法分析测定值相符。  相似文献   
7.
在高中物理"固体和液体"一节中,需要做云母片和玻璃片的导热性能实验,主要用来说明两个问题,一是利用云母片上熔化的蜡斑呈椭圆形说明单晶体导热性能各向异性这一物理特性;二是利用玻璃片上熔化的蜡斑呈圆形说明非晶体导热性能各向同性,并与单晶体的导热性相互比较.这个传统的实验说来容易,但凡亲自做过这个实验的老师都知道要想使这个实验达到预想的效果并不容易.  相似文献   
8.
介绍了第33届国际物理奥林匹克竞赛中的光学实验试题及其答案,并分析了此题的特点和实验过程中可能出现的问题。  相似文献   
9.
X射线荧光光谱法同时测定铁矿石中的主次量组分   总被引:2,自引:0,他引:2  
采用熔融玻璃片制样,选用标准样品,以经验α系数和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,使用ZSX Primus ⅡX射线荧光光谱仪对铁矿样品中的TFe、CaO、MsO、A12O3、SiO2、P205、TiO2、MnO、V2O5等组分进行测定,分析结果与标准值和化学值相吻合,12次测定的相对标准偏差小于10%.  相似文献   
10.
综述了近年来国内应用熔融玻璃片–波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及其它成分这一分析技术的研究和进展,重点对标样的选择与制备、熔剂组成对制样效果的影响、氧化剂和脱模剂的选择、烧失量的影响进行了总结。并对熔融玻璃片—波长色散X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁及其它元素的发展方向提出了建议和展望。  相似文献   
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