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《理化检验(化学分册)》2021,57(3)
建立了火花源原子发射光谱法测定直径为8~12mm的小规格线材中的碳、硅、锰、磷、硫、镍、铬、铜和钒等9种元素含量的方法。试样经切割和打磨后,按规格及钢种选择对应的自制夹具固定,垂直于磨样机打磨试样的端面。用随V型板专用的定位夹具将样品定位在火花源原子发射光谱仪激发孔中心位置,使试样支架中心和电极中心对齐。盖好顶盖,用氩气吹扫火花室5s,采用能量为0.2J、频率为100Hz激发光激发样品。在优化的仪器工作条件下,试样中9种元素可在10min内完成测定。采用块状光谱国家标准样品制作校准曲线,用校正公式消除了共存元素的干扰及由标准试样和实际试样形状差异带来的系统偏差。结果显示:9种元素的质量分数均在一定范围内与其对应的响应值呈线性关系,检出限(3s)为1.5~18.1μg·g~(-1);用此方法分析实际样品,所得测定值与参考文献使用的其他方法的基本一致,测定值的相对标准偏差(n=11)均在5%以内。 相似文献
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全川生 《工程物理研究院科技年报》2004,(1):153-154
在球面零件上钻孔,要保证每一个孔的中心线都指向球心。尤其是要求在球面上分布多孔时,工件在钻床上定位,有一定的难度。根据球面零件的结构特点,针对以上条件,设计如图1所示的钻床专用夹具。 相似文献
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针对惯性约束聚变(ICF)驱动装置中口径为400 mm400 mm薄型频率转换KDP晶体在45放置状态下产生的附加面形问题,采用有限元分析软件ANSYS,建立了以实测数据为基础的大口径薄型KDP晶体的应变模型和有加工误差的夹具模型,仿真分析了KDP晶体的加工误差和夹具的加工误差对KDP晶体附加面形的影响, 给出了KDP晶体附加面形变化的P-V值和RMS值。在此基础上,通过对KDP晶体的加工误差及夹具支撑表面不同类型和不同大小加工误差的分析和比较,得出:KDP晶体边缘的加工误差和夹具支撑表面的凹型加工误差是引起较大附加面形的原因之一,KDP晶体的加工误差也会导致其面形变化不均匀,而夹具支撑表面的凸型、波浪形加工误差和压条表面的随机加工误差对KDP晶体附加面形的影响相对较小,且支撑表面的随机加工误差引起的附加面形变化介于其他两者之间。 相似文献
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本文研究了紧固件联接抗剪接头疲劳试验的试验条件;提出了对加载系统的要求;分析了限制夹具对试样的受力和断口的影响;讨论了限制夹具使用中的某些问题。 相似文献