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1.
压电陶瓷及其应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
论述了压电陶瓷历电性的物理机理,并介绍压电陶瓷的应用.  相似文献   
2.
玻璃陶瓷材料中Tm3+离子红外到蓝色上转换发光   总被引:4,自引:0,他引:4  
许武  黄世华 《发光学报》1997,18(4):298-300
系统研究了PbF2+GeO2+WO3ⅩⅣTmF3玻璃陶瓷材料中,在近红外光(1.06μm)激发下,Tm3+离子的发光特性.实验中观测到Tm3+离子的两组峰值位置分别在20920cm-1和22173cm-1的蓝色上转换发光,并证实这两组上转换发光分别与吸收三个和四个光子有关,同时建立了上转换发光的模型.为了选择最佳掺杂浓度,详细地测量了Tm3+离子峰值为20920cm-1的蓝色上转换发光强度与TmF3浓度的关系.  相似文献   
3.
为完成快速、精确的外观轮廓度量,设计了一种新型纳米级精度分光路双频干涉度量系统。系统由低频差双频激光干涉度量模块和微探头及二维工作台两部分组成。微探针以轻敲式接近样品至几十纳米时,受原子力作用发生偏转,利用双频干涉模块度量其纵向偏转量,并对样品进行梳状式度量得到外观形貌。根据双频激光的实际光源,对原有双频干涉度量理论进行了改进提高。进行了系统组建和实验验证。结果表明:系统具有纳米级精度,可用于超精样品外观轮廓度量。  相似文献   
4.
利用室温下压电调制反射光(PzR)谱技术系统测量了N掺杂浓度为0.0%—3%的分子束外延生长GaNxAs1-x薄膜,并对图谱中所观察的光学跃迁进行了指认.在GaN0.005As0.995和GaN0.01As0.99薄膜的PzR谱中观察到此前只在椭圆偏振谱中才看到的N掺杂相关能态E11N.当N掺杂浓度达到 关键词: 压电调制反射光谱(PzR) xAs1-x薄膜')" href="#">GaNxAs1-x薄膜 分子束外延(MBE)  相似文献   
5.
通过研究(1-x)Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-xPbTiO3 (PMNT)单晶在不同方向、不同组分下高场致应变的特性,确定了〈001〉取向PMNT单晶(29%≤x≤31%)为制作层叠式驱动器的最佳组分范围,这组分的单晶具有高场致应变、低滞后而且性能较稳定的特点.研究结果表明,在保证应变曲线的线性和低滞后的前提下,将近-2kV/cm的负电场能够运用于〈001〉方向的PMNT晶体上. 40层(每片晶片尺寸为7mm×7mm×0.7mm)PMNT层叠式驱动器在电场 -1.5-10kV/cm的驱动下,可以获得38.1μm的纵向位移,负载40N的重量后,位移量减为34μm.  相似文献   
6.
树华 《物理》2006,35(4):321-321
一般人使用喷墨打印机来打印文件和图片+这种技术将细小的彩色墨滴从喷嘴中挤压出来.然而,在电子学和医学中正越来越多地用这种技术产生小体积的液滴.例如,使用压电晶体从一根针头中挤压出含有细胞的溶液,产生活细胞的二维和三维图像.但是细胞液滴的大小受到针头直径大小的限制+因而这种方法不能产生小于100μm同左右的液滴.这意味着很难制成带有细微特征的小的生物组织.  相似文献   
7.
高功率固体激光放大系统相位自校正方法研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
邓青华  张小民  景峰 《光学学报》2003,23(10):225-1229
就光学元件间低频相位误差叠加提出用相关系数作为叠加相位结果的估计参量,并通过模拟计算和验证实验证明了相关系数能有效地对低频相位叠加结果进行比较估计,在此基础上就高功率固体激光放大系统中放大片的选取和安装提出了自校正方法并实现了自校正过程。  相似文献   
8.
遥感器CCD驱动器热设计及其在摄像过程中的温度变化   总被引:3,自引:3,他引:0  
丁延卫  卢锷 《光学技术》2003,29(2):172-173
CCD驱动器是航天成像遥感器摄像过程中的主要热源之一。防止CCD驱动器过热是保证其正常工作的重要方面。介绍了遥感器的工作模式和对CCD驱动器采取的热控制措施。通过热平衡试验,利用回归的方法,对CCD驱动器在摄像过程中的温度变化规律进行了分析,同时对热控制效果进行了评估。CCD驱动器工作时升温速率在0.85℃/min左右,整个摄像过程中最高温度约为26℃,所实施的热控制措施效果理想。  相似文献   
9.
用LHPG法从粉末棒直接生长单晶光纤   总被引:7,自引:2,他引:5  
  相似文献   
10.
测量了淬火前后8Ce, 0.5Y-TZP陶瓷(稳定剂Y2O3的摩尔分数为0.50%)在室温到250℃温度范围内的内耗行为,并对出现的内耗峰机理进行了研究,发现淬火前后的样品在100℃左右均出现的内耗峰与YZr‘V偶极子的再取向有关,而淬火后样品出现的高温内耗峰起源于马氏体相变.此外,本文还研究了8Ce, 0.5Y-TZP和8Ce, 0.75Y-TZP陶瓷在室温到400℃温度范围内的介电损耗,计算了介电驰豫的激活能,结果表明与内耗试验中机械驰豫的激活能一致.  相似文献   
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